Analyse des poudres
Caractérisation de nanomatériaux et nanoparticules en laboratoire

ICP_AES (1).jpg

ICP AES

Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale.

Système simultané, système d'injection Teflon pour solution HF, système d'injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique.

ICP_MS (1).jpg

ICP - MS

Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell).

Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique.

 

DRX (1).jpg

DRX

DRX MINIFLEX II

Source : Cuivre

Plage angulaire : 0 à 120 °

Méthode de quantification par affinement selon la méthode de Rietveld

Base de données ICDD / JCPD

MEB_EDX.jpg

MEB EDX

Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)

Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore).

PHOTO-BET.jpg

Sorptomètre (BET)

Micromeritics GEMINI VII

Mesure de la surface spécifique par adsorption d’azote

Surface spécifique supérieure à 0,01 m²/g

6 postes de dégazage

Cellule de 6,5 et 8,9 cm3

Résolution P/P0 inférieure à 10-4

Demandez votre devis
Demande de devis

Pour être informé des dernieres nouveautés

inscrivez-vous à notre newsletter