--- type: "Article" title: "Voyager dans l’infiniment petit… L’AFM au service de l’extrême surface" description: "Quels modes et quelles applications de l'AFM ? Le laboratoire FILAB a eu le plaisir de vous annoncer l'arrivée de l'AFM au sein du parc analytique à Dijon début septembre 2022. Il s'est équipé d'un FX40 Automatic AFM qui est doté..." resource: "https://filab.fr/blog/2022/12/afm-extreme-surface-mode/" tags: ["Techniques Analytiques", "laboratoire", "matériaux", "technique", "FR", "pll_69200a36887cd"] timestamp: "2026-01-13T10:58:30Z" published: "2022-12-23T07:31:59Z" language: "fr-FR" author: "Floriane Fevre" --- # Voyager dans l’infiniment petit… L’AFM au service de l’extrême surface ## Quels modes et quelles applications de l'AFM ? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/Bandeau-couverture-Wordpress-1.png) Le laboratoire FILAB a eu le plaisir de vous annoncer l’arrivée de l’AFM au sein du parc analytique à Dijon début septembre 2022. Il s’est équipé d’un FX40 Automatic AFM qui est doté d’une IA.  Il permet de réaliser des analyses de manière plus rapides et fiables. Ainsi, cela fait de FILAB le premier laboratoire équipé d’un AFM doté d’une IA en Europe.  Le [Microscope à Force Atomique](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-analyse-afm.md) (AFM pour Atomic Force Microscope) est un microscope à sonde locale, haute résolution permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon mais aussi la **tribologie**, le **comportement mécanique**, **électrique** ou **chimique**. Cette méthode permet d’analyser **point par point la surface de l’échantillon** grâce au balayage d’une sonde constituée d’une **pointe nanométrique**. Ce microscope offre donc la possibilité d’étudier l’infiniment petit.  Selon la problématique rencontrée, l’AFM offre plusieurs modes : le mode contact et le mode non contact. Mais alors, quels modes utilisés pour quelles applications ?  ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/differents-modes-afm-1024x518.png) ### Le mode non-contact - **Le mode non-contact** de l’AFM permet de mesurer la **topographie** de l’échantillon sans l’abîmer.  ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact-2.png) ### Le mode contact Quant au mode contact de l’AFM, il permet aussi de mesurer la **topographie** (bien que cela soit moins utilisée) mais surtout de réaliser divers mesures :  - **mécaniques** - **électriques** - **magnétiques** Pour cela, il est nécessaire d’**adapter le type de pointe** selon l’échantillon (constante de raideur et application). Découvrez les différents modes de  contact de l’AFM :  ### Le mode mécanique FMM Parmi tous les modes de contact, le mode mécanique FMM permet de**réaliser des mesures de propriétés mécaniques** (Module d’Young, Déformation, Adhésion) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-contact-fmm-2.png) ### Le mode mécanique nanoindentation Le mode mécanique nanoindentation, quant à lui, permet de réaliser différentes mesures :  - **Mesures de dureté** et**module d’Young** - **Mesures de l’aire d’indentation** pour calculer la dureté ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-mecanique-nanoindentation.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-4.png) ### Le mode électrique C-AFM pinpoint Avec le mode électrique C-AFM pinpoint, il permet de :  - **Mesurer de propriétés électriques** (courant, résistance, spectroscopie I/V) - **Appliquer une tension entre la pointe et l’échantillon** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-1.png) Courant de fuite observé en c-AFM sur un composant SRAM (contact avec la zone dopée n en dessous)  (Tension constante appliquée pendant l’image) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-2.png) Images à différentes tensions et spectroscopie en 1 point ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-3.png) Cartographie de courant sur un film de pentacène déposé sur Ni (111) ### Le mode électrique EFM pinpoint Ce mode a pour objectif de réaliser :  - des **mesures de propriétés électrostatiques** (tensions de surface) - des **applications d’une tension entre la pointe et l’échantillon** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-2.png) Highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) Mesure de potentiel de surface, travail de sortie (mesure KPFM) :  ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-4.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-3.png) Particules sur Si Mise en évidence de nanofils dans du PET (mesure EFM) :  ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-1.png) ### Le mode magnétique MFM Avec ce mode magnétique MFM, des **mesures de propriétés magnétiques** (différenciation de domaines magnétiques) pourront être réalisées. ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-magnetique-MFM.png) [En savoir plus sur l’extrême surface ?](https://filab.fr/nos-prestations/analyse/caracterisation-de-surface/laboratoire-analyse-extreme-surface.md) [Nous sommes à votre disposition pour répondre à vos questions.](https://filab.fr/a-propos-de-nous/equipe.md) [NOUS CONTACTER](https://filab.fr/contact.md)