--- type: "Article" title: "Reisen ins Unendlich Kleine… AFM im Dienst der extremen Oberfläche" description: "Welche Modi und welche Anwendungen hat die AFM? Le laboratoire FILAB a eu le plaisir de vous annoncer l’arrivée de l’AFM au sein du parc analytique à Dijon début septembre 2022. Il s’est équipé d’un FX40 Automatic AFM qui est doté..." resource: "https://filab.fr/de/blog/2026/06/reisen-ins-unendlich-kleine-afm-im-dienst-der-extremen-oberflache/" tags: ["Analytische Techniken", "Labor", "Materialien", "Technik", "DE", "pll_69200a36887cd"] timestamp: "2026-06-10T14:34:28Z" published: "2026-06-10T14:34:28Z" language: "de" author: "Floriane Fevre" --- # Reisen ins Unendlich Kleine… AFM im Dienst der extremen Oberfläche ## Welche Modi und welche Anwendungen hat die AFM? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/Bandeau-couverture-Wordpress-1.png) Le laboratoire FILAB a eu le plaisir de vous annoncer l’arrivée de l’AFM au sein du parc analytique à Dijon début septembre 2022. Il s’est équipé d’un FX40 Automatic AFM qui est doté d’une IA.  Il permet de réaliser des analyses de manière plus rapides et fiables. Ainsi, cela fait de FILAB le premier laboratoire équipé d’un AFM doté d’une IA en Europe.  Le [Microscope à Force Atomique](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-analyse-afm.md) (AFM pour Atomic Force Microscope) est un microscope à sonde locale, haute résolution permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon mais aussi la **tribologie**, le **comportement mécanique**, **électrique** ou **chimique**. Cette méthode permet d’analyser **point par point la surface de l’échantillon** grâce au balayage d’une sonde constituée d’une **pointe nanométrique**. Ce microscope offre donc la possibilité d’étudier l’infiniment petit.  Selon la problématique rencontrée, l’AFM offre plusieurs modes : le mode contact et le mode non contact. Mais alors, quels modes utilisés pour quelles applications ?  ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/differents-modes-afm-1024x518.png) ### Der Modus Nicht-Kontakt - **Der Nicht-Kontakt-Modus** des AFM ermöglicht es, die **Topografie** der Probe zu messen, ohne sie zu beschädigen. ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact-2.png) ### Der Modus Kontakt Was den Kontaktmodus des AFM betrifft, so ermöglicht er ebenfalls die Messung der **Topografie** (auch wenn dies weniger häufig genutzt wird), vor allem aber verschiedene Messungen: - **mechanische** - **elektrische** - **magnetische** Dazu ist es notwendig, den **Spitzentyp an die Probe anzupassen** (Federkonstante und Anwendung). Entdecken Sie die verschiedenen Kontaktmodi des AFM: ### Der mechanische Modus FMM Unter allen Kontaktmodi ermöglicht der mechanische Modus FMM die **Messung mechanischer Eigenschaften** (Young-Modul, Verformung, Adhäsion) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-contact-fmm-2.png) ### Der mechanische Modus Nanoindentation Der mechanische Modus Nanoindentation ermöglicht seinerseits verschiedene Messungen: - **Härtemessungen** und **Young-Modul** - **Messungen der Eindringfläche** zur Berechnung der Härte ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-mecanique-nanoindentation.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-4.png) ### Der elektrische Modus C-AFM pinpoint Mit dem elektrischen Modus C-AFM pinpoint lassen sich: - **elektrische Eigenschaften messen** (Strom, Widerstand, I/V-Spektroskopie) - **eine Spannung zwischen Spitze und Probe anlegen** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-1.png) Leckstrom, beobachtet im c-AFM an einer SRAM-Komponente (Kontakt mit der darunterliegenden n-dotierten Zone) (während der Aufnahme angelegte konstante Spannung) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-2.png) Bilder bei verschiedenen Spannungen und Spektroskopie an einem Punkt ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-3.png) Stromkartierung auf einem auf Ni (111) abgeschiedenen Pentacenfilm ### Der elektrische Modus EFM pinpoint Dieser Modus dient dazu, Folgendes durchzuführen: - Messungen elektrostatischer Eigenschaften**(Oberflächenspannungen)** - **** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-2.png) Highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) Messung des Oberflächenpotenzials, Austrittsarbeit (KPFM-Messung): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-4.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-3.png) Partikel auf Si Nachweis von Nanodrähten in PET (EFM-Messung): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-1.png) ### Der magnetische Modus MFM Mit diesem magnetischen Modus MFM können **Messungen magnetischer Eigenschaften** (Unterscheidung magnetischer Domänen) durchgeführt werden. ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-magnetique-MFM.png) [Mehr über die äußerste Oberfläche erfahren?](https://filab.fr/nos-prestations/analyse/caracterisation-de-surface/laboratoire-analyse-extreme-surface.md) [Wir stehen Ihnen gerne zur Verfügung, um Ihre Fragen zu beantworten.](https://filab.fr/a-propos-de-nous/equipe.md) [KONTAKTIEREN SIE UNS](https://filab.fr/contact.md)