Unsere Geräte für die Oberflächencharakterisierung und Fehleranalyse

REM EDX

Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) gekoppelt an eine energiedispersive Röntgenmikrosonde (EDX)

 

Hoch- und Niedervakuum-Betrieb für Proben Leiter und Isolator – Detektor für Sekundärelektronen mit Wechselwirkung (chemischer und topographischer Kontrast) – Halbquantitative chemische Analyse EDX (Punktanalyse, Kartographie, Bor-Detektion)

Optisches Mikroskop

Optisches Mikroskop

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