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type: "WebPage"
title: "Unsere Geräte für die Oberflächencharakterisierung und die Analyse von Schadensfällen im Labor"
description: "MEB FEG EDX Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) gekoppelt mit einer energiedispersiven Röntgenmikrosonde (EDX)High-Vac- und Low-Vac-Modus für leitfähige und isolierende Proben – Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor (topografischer und chemischer Kontrast) – Halbquantitative EDX-Analyse (Punktanalyse, Kartierung, Nachweis ab Bor)Weitere Informationen Lichtmikroskop Optisches Mikroskop"
resource: "https://filab.fr/de/unsere-leistungen/unsere-expertendienstleistungen/analyse-und-untersuchung-von-ausfallen-im-labor/unsere-gerate-fur-die-oberflachencharakterisierung-und-die-analyse-von-schadensfallen-im-labor/"
tags: ["DE", "pll_612901fca07cf", "Thomas GAUTIER"]
timestamp: "2026-06-11T06:43:39Z"
published: "2026-06-10T14:29:34Z"
language: "de"
author: "bwa"
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# Unsere Geräte für die Oberflächencharakterisierung und die Analyse von Schadensfällen im Labor

## MEB FEG EDX

Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) gekoppelt mit einer energiedispersiven Röntgenmikrosonde (EDX)

High-Vac- und Low-Vac-Modus für leitfähige und isolierende Proben – Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor (topografischer und chemischer Kontrast) – Halbquantitative EDX-Analyse (Punktanalyse, Kartierung, Nachweis ab Bor)

[Weitere Informationen](https://filab.fr/de/unsere-technischen-moglichkeiten/labor-fur-meb-edx-analysen.md)

## Lichtmikroskop

Optisches Mikroskop