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tags: ["DE", "pll_61696e52550bb", "Thomas ROUSSEAU"]
timestamp: "2026-06-11T06:41:20Z"
published: "2026-06-10T14:00:06Z"
language: "de"
author: "bwa"
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# Labor für Partikelanalysen mittels Rasterelektronenmikroskopie (MEB-EDX)

## Sie möchten ein unbekanntes Partikel identifizieren, das sich auf oder in Ihren Produkten befindet? Nutzen Sie das REM!

Ein Partikel ist ein sehr kleiner, manchmal restlicher Bestandteil einer chemischen Substanz oder eines Materials. Die Partikelanalyse mittels Rasterelektronenmikroskopie ([MEB-EDX](https://filab.fr/de/unsere-technischen-moglichkeiten/labor-fur-meb-edx-analysen.md)) ermöglicht das Zählen von Partikeln im Bereich von einigen Dutzend Nanometern bis zu mehreren hundert Mikrometern.

Die bei der Analyse gewonnenen Werte machen wichtige Informationen sichtbar, wie die maximale Partikelgröße, das Aussehen der Partikel und ihre Herkunft.

## Die Analyse von Partikeln und Kontaminationen: ein eigener Bereich des FILAB-Labors

Das Labor FILAB bietet Ihnen Partikelanalysen, die auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten sind:

## unsere Leistungen

Chemische Charakterisierung und Identifizierung von [Kontaminationen](https://filab.fr/de/unsere-leistungen/unsere-expertendienstleistungen/partikel-und-kontaminationsanalysen-im-labor.md) mittels [REM](https://filab.fr/de/unsere-technischen-moglichkeiten/labor-fur-rem-ebsd-analysen.md) und µ-IRTF

Spektralanalysen von Partikeln mittels [FTIR](https://filab.fr/de/unsere-technischen-moglichkeiten/ftir-irtf-analyse-im-labor.md) und Interpretation

[Partikelgrößenanalyse](https://filab.fr/de/unsere-leistungen/unsere-analyseleistungen/labor-fur-partikelgrosenanalyse.md) :

Lasergranulometrie, Siebung…
Chemische Analyse von Staub

Partikelanalyse[in einem pharmazeutischen Produkt](https://filab.fr/de/branchen/analyselabor-fur-die-pharmaindustrie.md)

Analyse der [Sauberkeit](https://filab.fr/de/unsere-leistungen/unsere-analyseleistungen/labor-fur-oberflachenanalyse-und-oberflachencharakterisierung/labor-fur-die-analyse-der-oberflachenreinheit-mittels-rem.md) von Oberflächen