--- type: "Article" title: "Viajar en lo infinitamente pequeño… El AFM al servicio de la superficie extrema" description: "¿Qué modos y qué aplicaciones del AFM? El laboratorio FILAB tuvo el placer de anunciarles la llegada del AFM al parque analítico de Dijon a principios de septiembre de 2022. Se ha equipado con unFX40 Automatic AFM que estádotado de..." resource: "https://filab.fr/es/blog/2026/06/viajar-en-lo-infinitamente-pequeno-el-afm-al-servicio-de-la-superficie-extrema/" tags: ["Técnicas Analíticas", "laboratorio", "materiales", "técnica", "ES", "pll_69200a36887cd"] timestamp: "2026-06-11T06:46:41Z" published: "2026-06-10T14:34:29Z" language: "es" author: "Floriane Fevre" --- # Viajar en lo infinitamente pequeño… El AFM al servicio de la superficie extrema ## ¿Qué modos y qué aplicaciones del AFM? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/Bandeau-couverture-Wordpress-1.png) El laboratorio FILAB tuvo el placer de anunciarles la llegada del AFM al parque analítico de Dijon a principios de septiembre de 2022. Se ha equipado con unFX40 Automatic AFM que estádotado de IA. Permite realizar análisis de forma más rápida y fiable. Así, FILAB se convierte en el primer laboratorio equipado con un AFM dotado de IA en Europa. El [Microscopio de Fuerza Atómica](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-por-microscopia-de-fuerza-atomica-afm.md) (AFM, por Atomic Force Microscope) es un microscopio de sonda local de alta resolución que permite visualizar la topografía de la superficie de una muestra, pero también la **tribología**, el **comportamiento mecánico**, **eléctrico** o **químico**. Este método permite analizar **punto por punto la superficie de la muestra** gracias al barrido de una sonda constituida por una **punta nanométrica**. Este microscopio ofrece, por tanto, la posibilidad de estudiar lo infinitamente pequeño. Según la problemática planteada, el AFM ofrece varios modos: el modo contacto y el modo no contacto. Pero entonces, ¿qué modos se utilizan para qué aplicaciones? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/differents-modes-afm-1024x518.png) ### El modo sin contacto - **El modo sin contacto** del AFM permite medir la **topografía** de la muestra sin dañarla. ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact-2.png) ### El modo contacto En cuanto al modo contacto del AFM, también permite medir la **topografía** (aunque se utiliza menos), pero sobre todo realizar diversas medidas: - **mecánicas** - **eléctricas** - **magnéticas** Para ello, es necesario **adaptar el tipo de punta** según la muestra (constante de rigidez y aplicación). Descubra los diferentes modos de contacto del AFM: ### El modo mecánico FMM Entre todos los modos de contacto, el modo mecánico FMM permite **realizar medidas de propiedades mecánicas** (módulo de Young, deformación, adhesión) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-contact-fmm-2.png) ### El modo mecánico de nanoindentación El modo mecánico de nanoindentación, por su parte, permite realizar diferentes medidas: - **Medidas de dureza** y**módulo de Young** - **Medidas del área de indentación** para calcular la dureza ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-mecanique-nanoindentation.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-4.png) ### El modo eléctrico C-AFM pinpoint Con el modo eléctrico C-AFM pinpoint, permite: - **Medir propiedades eléctricas** (corriente, resistencia, espectroscopia I/V) - **Aplicar una tensión entre la punta y la muestra** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-1.png) Corriente de fuga observada en c-AFM sobre un componente SRAM (contacto con la zona dopada n por debajo) (tensión constante aplicada durante la imagen) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-2.png) Imágenes a diferentes tensiones y espectroscopia en un punto ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-3.png) Cartografía de corriente sobre una película de pentaceno depositada sobre Ni (111) ### El modo eléctrico EFM pinpoint Este modo tiene como objetivo realizar:  - mediciones de **propiedades electrostáticas** (tensiones superficiales) - aplicaciones de una tensión entre la punta y la muestra**** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-2.png) Grafito pirolítico altamente orientado (HOPG) Medición del potencial de superficie, trabajo de salida (medición KPFM): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-4.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-3.png) Partículas sobre Si Puesta en evidencia de nanohilos en PET (medición EFM): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-1.png) ### El modo magnético MFM Con este modo magnético MFM, podrán realizarse **medidas de propiedades magnéticas** (diferenciación de dominios magnéticos). ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-magnetique-MFM.png) [¿Quieres saber más sobre la superficie extrema?](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-analisis/laboratorio-de-analisis-y-caracterizacion-de-superficies/laboratorio-de-analisis-de-superficie-extrema.md) [Estamos a su disposición para responder a sus preguntas.](https://filab.fr/es/acerca-de-nosotros/equipo-filab.md) [CONTACTAR CON NOSOTROS](https://filab.fr/es/contacto.md)