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title: "Análisis de superficie por tomografía X"
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timestamp: "2026-06-12T05:13:42Z"
published: "2026-06-10T13:56:41Z"
language: "es"
author: "Floriane Fevre"
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# Análisis de superficie por tomografía X

## ¿Cómo controlar la conformidad y el rendimiento superficial de su material mediante tomografía X?

 En primer lugar, el [análisis de superficie](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-analisis/laboratorio-de-analisis-y-caracterizacion-de-superficies.md) permite definir las propiedades y el estado superficial de un material. La tomografía X, por su parte, es un medio para responder a esta definición. De hecho, su objetivo es controlar la conformidad y el rendimiento de su material. ¿Cómo consigue la tomografía de rayos X hacer esto? Estudiando…
- la composición del material,
- la superficie hasta su núcleo,
- y seguir su evolución según las tensiones externas.

 Se trata de una técnica de análisis y control de materiales por imagen que utiliza la interacción radiación/materia. Esto permite construir imágenes en 3D de la superficie estudiada. Por otra parte, es una técnica muy apreciada en ciertos sectores industriales, ya que no es necesario destruir el material para analizarlo. Así, para controlar la conformidad y el rendimiento de su material, conviene realizar un análisis de superficie por tomografía X.
## FILAB le acompaña en sus necesidades de análisis de superficie por tomografía X

Con una experiencia significativa en el análisis de superficie y la caracterización de materiales, el laboratorio FILAB le acompaña en la comprensión del comportamiento de sus productos y en la búsqueda de soluciones adaptadas.

El Laboratorio FILAB utiliza, entre otros, análisis por tomografía de rayos X, así como herramientas de vanguardia como el [MEB](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-meb-edx.md) FEG-EDX, el XPS o incluso el [análisis AFM](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-por-microscopia-de-fuerza-atomica-afm.md).

## PARA IR + LEJOS

[Análisis de superficie por MEB](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-meb-edx/laboratorio-de-analisis-de-superficie-mediante-microscopio-electronico-de-barrido-meb.md)

[Caracterización morfológica de los materiales](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-analisis/filab-laboratorio-de-caracterizacion-de-materiales/analisis-de-caracterizacion-morfologica-de-materiales.md)

[Tomografía X para la fundición](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-industrial-por-tomografia-de-rayos-x-en-laboratorio/analisis-de-superficie-por-tomografia-x.md)

[Análisis por BET](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-y-medicion-de-la-superficie-especifica-por-bet.md)y medición del volumen de superficie específica ([VSSA](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/id/formaciones-en-quimica-analitica-y-caracterizacion-de-materiales-en-laboratorio/formacion-en-la-tecnica-bet-para-laboratorios.md))

Análisis de superficie extrema por TOF-SIMS y XPS