--- type: "WebPage" title: "Estudios de fallos mediante tomografía X en laboratorio" description: "¿Desea realizar estudios de fallos mediante tomografía X? Los estudios de fallos en laboratorio Los estudios de fallos, también llamados análisis de fallos o análisis de averías, consisten en un enfoque científico y técnico que tiene como objetivo identificar el..." resource: "https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-industrial-por-tomografia-de-rayos-x-en-laboratorio/estudios-de-fallos-mediante-tomografia-x-en-laboratorio/" tags: ["ES", "pll_67f3c56d513e5", "Thomas GAUTIER"] timestamp: "2026-06-12T05:08:02Z" published: "2026-06-10T13:51:31Z" language: "es" author: "Laure Durieux" --- # Estudios de fallos mediante tomografía X en laboratorio ## ¿Desea realizar estudios de fallos mediante tomografía X? ### Los estudios de fallos en laboratorio **Los [estudios de fallos](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-especializacion/analisis-y-estudio-de-fallos-en-laboratorio.md)**, también llamados **análisis de fallos o análisis de averías**, consisten en un enfoque científico y técnico que tiene como objetivo **identificar el origen de un problema en un producto, un material o un proceso**. Suelen intervenir **después de la aparición de un [defecto](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-analisis/filab-laboratorio-de-caracterizacion-de-materiales/laboratorio-de-analisis-de-defecto-mecanico.md), una avería o un mal funcionamiento**, con el fin de comprender **por qué** ha ocurrido y **cómo evitar que vuelva a producirse**. ### ¿Por qué realizar estudios de fallos mediante tomografía X? Cuando un producto presenta un mal funcionamiento, un defecto o una rotura durante su vida útil o en producción, **la identificación rápida y precisa de la causa raíz** es esencial. En muchos casos, los fallos se originan **en el corazón del material** y las técnicas convencionales no permiten identificarlos sin alterar la muestra. Gracias a la **tomografía de rayos X**, ahora es posible **visualizar el interior de los materiales o de los ensamblajes de forma no destructiva**, en 3D y con una resolución muy alta. ## FILAB cuenta con experiencia en estudios de fallos. ### La tomografía X al servicio del estudio de fallos En el laboratorio FILAB, nuestro enfoque de los estudios de fallos mediante tomografía X se basa en **una combinación de experiencia, tecnología de vanguardia y capacidad de respuesta sobre el terreno**. Nuestros análisis son realizados por **un equipo de ingenieros especializados en la interpretación de datos 3D**, capaces de relacionar las observaciones con su realidad industrial. También aportamos **una experiencia transversal en materiales, procesos de fabricación y condiciones de puesta en obra**, para situar cada fallo en su contexto global. ![schéma tomographie X def](https://filab.fr/wp-content/uploads/elementor/thumbs/schema-tomographie-X-def-r3v7mgc9ujtjwekct0yk82waw97pfyh75t9jgy950g.png) ### Nuestros otros medios técnicos para el estudio de fallos El laboratorio FILAB pone a disposición de los industriales diversos medios técnicos y un parque analítico de vanguardia complementario en función de los estudios de fallos que se deban realizar: ### MEB ### Cromatografía de Gases ### ICP ### IRTF ### DSC ### DRX Microscopía Electrónica de Barrido de efecto de campo acoplada a una microsonda ([análisis MEB-EDX](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-meb-edx.md) solicitado para la caracterización topográfica y química de la superficie) Cromatografía de Gases acoplada a un detector de tipo Espectrómetro de Masas ([GC-MS](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-por-pirolisis-gc-ms-py-gc-ms.md) para la identificación y cuantificación de moléculas orgánicas cromatografiables) Espectrometría de Emisión por Plasma ([ICP-AES - ICP-MS](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-icp-icp-ms-icp-ms-ms-e-icp-aes-icp-oes.md) para el análisis químico elemental y la identificación de contaminación) Espectroscopía Infrarroja ([IRTF](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-ftir-irtf-en-laboratorio.md)), la Calorimetría Diferencial de Barrido ([DSC](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-dsc-en-laboratorio.md)), la Difracción de Rayos X ([DRX](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-drx-en-laboratorio-caracterizacion-y-peritaje-de-materiales-cristalinos.md)) ### ¿Por qué elegir la Tomografía X para sus estudios de fallos? La técnica de análisis por Tomografía X permite:  Identificar **defectos internos** : [porosidad](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/analisis-de-porosimetria-de-mercurio-poro-hg-en-laboratorio.md), [fisura](https://filab.fr/es/nuestros-servicios/nuestros-servicios-de-especializacion/analisis-y-estudio-de-fallos-en-laboratorio/laboratorio-de-peritaje-de-grietas-en-sus-materiales.md), inclusiones, delaminaciones, malos ensamblajes… Evaluar la **distribución espacial de los defectos** Analizar **sin deteriorar** la muestra, lo que es crucial para los componentes de alto valor añadido Realizar **cortes virtuales** en la pieza, desde todos los ángulos Comparar un producto conforme y un producto defectuoso ## FAQ ¿Qué es la Tomografía X? La Tomografía X es una técnica de imagen no destructiva que permite obtener una **reconstrucción 3D del interior de un objeto**. Funciona como un escáner médico, pero con una resolución mucho mayor, adaptada a materiales y componentes industriales. ¿Por qué utilizar la Tomografía X en el marco de un estudio de fallos? Permite **localizar y caracterizar los defectos internos** sin necesidad de cortar o desmontar la pieza. Esto resulta especialmente útil para analizar fallos en componentes complejos, frágiles o costosos, sin deteriorarlos. ¿Sobre qué materiales o productos es aplicable la tomografía X? La tomografía X se adapta a una gran variedad de materiales: **metales, polímeros, cerámicas, compuestos, etc.** Es especialmente eficaz en piezas inyectadas, moldeadas, mecanizadas o ensambladas, en sectores como el **médico, aeronáutico, automovilístico, de lujo o electrónico**. ¿Se destruye la muestra durante el análisis? No, ese es precisamente el gran interés de la tomografía X: permite un **análisis no destructivo**. La pieza permanece intacta, lo que resulta ideal cuando es valiosa, única o difícilmente reproducible. ¿Se puede combinar la Tomografía X con otros análisis? Sí, y además se recomienda. En el laboratorio filab, a menudo asociamos la tomografía de rayos X con otras técnicas (MEB, EDS, DRX, FTIR…) para **cruzar los datos** y remontar con mayor eficacia al origen de la causa raíz del fallo.