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title: "Nuestros equipos para la caracterización de superficies y el análisis de fallos en laboratorio"
description: "MEB FEG EDX Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (ESEM) acoplado a una microsonda de rayos X dispersiva en energía (EDX)Modo High-Vac y Low-Vac para muestras conductoras y aislantes – Detector de electrones secundarios y retrodispersados (contraste topográfico y químico) –..."
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tags: ["ES", "pll_612901fca07cf", "Thomas GAUTIER"]
timestamp: "2026-06-12T05:20:00Z"
published: "2026-06-10T14:29:35Z"
language: "es"
author: "bwa"
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# Nuestros equipos para la caracterización de superficies y el análisis de fallos en laboratorio

## MEB FEG EDX

Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (ESEM) acoplado a una microsonda de rayos X dispersiva en energía (EDX)

Modo High-Vac y Low-Vac para muestras conductoras y aislantes – Detector de electrones secundarios y retrodispersados (contraste topográfico y químico) – Análisis químico semicuantitativo EDX (modo puntual, cartografía, detección a partir del boro)

[Más información](https://filab.fr/es/nuestros-medios-tecnicos/laboratorio-de-analisis-meb-edx.md)

## Microscopio óptico

Microscopio óptico