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title: "Laboratoire d’analyse de propreté de surface par MEB"
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tags: ["BE", "pll_627e654de3ed2", "Anaïs DECAUX"]
timestamp: "2026-05-05T12:54:42Z"
published: "2022-05-13T14:03:57Z"
language: "fr-BE"
author: "bwa"
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# Laboratoire d’analyse de propreté de surface par MEB

## Vos besoins : contrôler le niveau de propreté de surface d’un produit

### Pourquoi analyser la propreté de surface par MEB ?

Pour de nombreux secteurs d’applications (médical, [aéronautique](https://filab.fr/fr_be/secteurs-activites/laboratoire-industrie-aeronautique.md), [automobile](https://filab.fr/fr_be/secteurs-activites/laboratoire-industrie-automobile.md), électronique, …), la fonctionnalité d’un produit est directement liée à sa surface.

En effet, la présence de [contamination](https://filab.fr/fr_be/prestations/expertises/analyses-particules-contamination.md) chimique ou [pollution particulaire](https://filab.fr/paroles-d-expert/metallurgie-fonderie-automobile/filab-vous-accompagne-dans-l-identification-de-pollution-particulaire.md) en surface suite aux différentes étapes du procédé de fabrication peut affecter les caractéristiques d’un matériaux.

Ainsi, pour garantir la propreté de surface d’un produit et donc sa qualité, il est donc essentiel de mettre en place un programme de nettoyage spécifique aux substances sollicitées dans le cadre de la fabrication de l’article.

De plus, la technique privilégiée pour évaluer la propreté d’une surface est la [Microscopie Electronique à Balayage (MEB-FEG)](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-expertise-meb-edx.md) couplée à une microsonde EDX.

Cette approche présente l’avantage de pouvoir cartographier la distribution spatiale des contaminants sur la surface de la pièce.

## FILAB met à votre disposition un MEB-FEG-EDX à la pointe de la technologie pour évaluer vos propretés de surface

De l’analyse à la R&D en passant par l’expertise et la validation des procédés de nettoyage, le laboratoire FILAB propose une expertise multisectorielle face à plusieurs types de demandes liées à la propreté de surface des matériaux :

## Nos expertises

Cartographie particulaire et chimique par [MEB-FEG-EDX](https://fr.wikipedia.org/wiki/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage) de la surface de composants du secteur aérospatial (métallique et céramique) suivant une méthodologie client transposée et validée au sein de notre laboratoire

Analyse de la propreté particulaire de pièces décolletées destinées aux secteurs aéronautique et automobile suivant les normes ISO 16232 et VDA19

[Contamination particulaire dans les produits injectables](https://filab.fr/fr_be/prestations/expertises/analyse-particule-vaccins-injectable.md) et les perfusions parentérales (USP 788, PE 2.9.19 méthode 2, …)

Analyse et contrôle de la gravimétrie (selon la norme NF E 48-652)

Réalisation de Comptage Particulaire selon la norme E-48-660 et ISO 4406

[Contrôle de l’état de surface](https://filab.fr/fr_be/prestations/analyses/laboratoire-analyse-surface/analyses-etat-surface-laboratoire.md) par MEB-FEG-EDX d’implants dentaires après traitement pour recherche de contamination organique et de résidu de traitement de surface de type microbillage, sablage, … (Clean Implant)

Contamination particulaire et caractérisation chimique des dispositifs médicaux suivant [ISO 10993](https://filab.fr/fr_be/prestations/expertises/analyse-biocompatibilite/caracterisation-chimique-materiaux.md), [ISO 19227](https://filab.fr/fr_be/prestations/expertises/analyse-norme-iso-19227.md)

Identification de la nature de particules par MEB-FEG-EDX et microscopie [IRTF](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyses-chimiques-par-irtf-ftir.md) dans des solutions à usage pharmaceutique.

Identification de particules par MEB-EDX ou [MO](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-microscopie-optique.md) selon les normes NF E 48-651 et 48-660

## nos autres moyens techniques

[µ-IRTF](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-microscopie-irtf.md)

Spectroscopie de Photo-électrons X ([XPS](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-xps-esca.md))

Analyse élémentaire ([ICP-AES, ICP-MS](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyses-chimiques-minerales.md), [CLI](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyses-chromatographie-ionique.md))... 

Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol ([ToF-SIMS](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-tof-sims.md))

[Techniques de Chromatographie](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyses-chromatographie-gc-ms.md) (GC-FID, GCMS, LCMS, …)

[MEB-EBSD](https://filab.fr/fr_be/moyens-techniques/analyse-meb-ebsd.md)