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title: "Nos équipements pour la caractérisation de surface et l’analyse de défaillances en laboratoire"
resource: "https://filab.fr/fr_ch/nos-prestations-filab/nos-prestations-dexpertise/laboratoire-etude-defaillances/equipements-caracterisation-de-surface-et-l-analyse-de-defaillance/"
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timestamp: "2025-12-31T08:54:15Z"
published: "2022-05-20T07:06:44Z"
language: "fr-CH"
author: "bwa"
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# Nos équipements pour la caractérisation de surface et l’analyse de défaillances en laboratoire

## MEB FEG EDX

Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)

Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant – Détecteur d’électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) – Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)

[Plus d’informations](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-d-analyses-par-microscopie-electronique-a-balayage-meb-edx.md)

## Microscope optique

Microscope optique