--- type: "Article" title: "Viaggiare nell’infinitamente piccolo… L’AFM al servizio dell’estrema superficie" description: "Quali modalità e quali applicazioni dell’AFM? Il laboratorio FILAB ha avuto il piacere di annunciare l’arrivo dell’AFM all’interno del parco analitico di Digione all’inizio di settembre 2022. Si è dotato di un FX40 Automatic AFM che è dotato di IA...." resource: "https://filab.fr/it/blog/2026/06/viaggiare-nellinfinitamente-piccolo-lafm-al-servizio-dellestrema-superficie/" tags: ["Tecniche Analitiche", "laboratorio", "materiali", "tecnica", "IT", "pll_69200a36887cd"] timestamp: "2026-06-11T06:47:59Z" published: "2026-06-10T14:34:29Z" language: "it-IT" author: "Floriane Fevre" --- # Viaggiare nell’infinitamente piccolo… L’AFM al servizio dell’estrema superficie ## Quali modalità e quali applicazioni dell’AFM? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/Bandeau-couverture-Wordpress-1.png) Il laboratorio FILAB ha avuto il piacere di annunciare l’arrivo dell’AFM all’interno del parco analitico di Digione all’inizio di settembre 2022. Si è dotato di un FX40 Automatic AFM che è dotato di IA. Ciò consente di effettuare analisi in modo più rapido e affidabile. Così, FILAB diventa il primo laboratorio in Europa dotato di un AFM con IA. Il [Microscopio a Forza Atomica](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-tramite-microscopia-a-forza-atomica-afm.md) (AFM, acronimo di Atomic Force Microscope) è un microscopio a sonda locale ad alta risoluzione che consente di visualizzare la topografia della superficie di un campione ma anche la **tribologia**, il **comportamento meccanico**, **elettrico** o **chimico**. Questo metodo consente di analizzare **punto per punto la superficie del campione** grazie alla scansione di una sonda costituita da una **punta nanometrica**. Questo microscopio offre quindi la possibilità di studiare l’infinitamente piccolo. A seconda della problematica riscontrata, l’AFM offre diverse modalità: la modalità contatto e la modalità non contatto. Ma allora, quali modalità utilizzare per quali applicazioni? ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/differents-modes-afm-1024x518.png) ### La modalità non contatto - **La modalità non contatto** dell’AFM consente di misurare la **topografia** del campione senza danneggiarlo. ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-non-contact-2.png) ### La modalità contatto Per quanto riguarda la modalità contatto dell’AFM, consente anch’essa di misurare la **topografia** (sebbene sia meno utilizzata) ma soprattutto di effettuare diverse misure: - **meccaniche** - **elettriche** - **magnetiche** Per questo, è necessario **adattare il tipo di punta** in base al campione (costante di rigidità e applicazione). Scoprite le diverse modalità di contatto dell’AFM: ### La modalità meccanica FMM Tra tutte le modalità di contatto, la modalità meccanica FMM consente di **effettuare misure di proprietà meccaniche** (modulo di Young, deformazione, adesione) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-contact-fmm-2.png) ### La modalità meccanica nanoindentazione La modalità meccanica nanoindentazione, invece, consente di effettuare diverse misure: - **misure di durezza** e **modulo di Young** - **misure dell’area di indentazione** per calcolare la durezza ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-mecanique-nanoindentation.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-4.png) ### La modalità elettrica C-AFM pinpoint Con la modalità elettrica C-AFM pinpoint, è possibile: - **misurare proprietà elettriche** (corrente, resistenza, spettroscopia I/V) - **applicare una tensione tra la punta e il campione** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-1.png) Corrente di fuga osservata in c-AFM su un componente SRAM (contatto con la zona drogata n sottostante) (tensione costante applicata durante l’immagine) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-2.png) Immagini a diverse tensioni e spettroscopia in un punto ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-C-AFM-pinpoint-3.png) Mappatura della corrente su un film di pentacene depositato su Ni (111) ### La modalità elettrica EFM pinpoint Questa modalità ha l’obiettivo di realizzare: - misure di **proprietà elettrostatiche** (tensioni superficiali) - applicazioni di una tensione tra la punta e il campione**** ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-2.png) Grafite pirolitica altamente orientata (HOPG) Misura del potenziale di superficie, lavoro di estrazione (misura KPFM): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-4.png) ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-3.png) Particelle su Si Messa in evidenza di nanofili in PET (misura EFM): ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-electrique-EFM-pinpoint-1.png) ### La modalità magnetica MFM Con questa modalità magnetica MFM, sarà possibile effettuare **misure di proprietà magnetiche** (differenziazione dei domini magnetici). ![](https://filab.fr/wp-content/uploads/2022/11/mode-magnetique-MFM.png) [Scopri di più sull’estrema superficie?](https://filab.fr/it/i-nostri-servizi/i-nostri-servizi-di-analisi/laboratorio-di-analisi-e-caratterizzazione-della-superficie/laboratorio-di-analisi-di-superficie-estrema.md) [Siamo a vostra disposizione per rispondere alle vostre domande.](https://filab.fr/it/chi-siamo/team-filab.md) [CONTATTACI](https://filab.fr/it/contatti.md)