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title: "Analisi di superficie mediante tomografia X"
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timestamp: "2026-06-11T06:23:34Z"
published: "2026-06-10T13:56:41Z"
language: "it-IT"
author: "Floriane Fevre"
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# Analisi di superficie mediante tomografia X

## Come controllare la conformità e le prestazioni superficiali del vostro materiale tramite tomografia X?

 Innanzitutto, l’[analisi di superficie](https://filab.fr/it/i-nostri-servizi/i-nostri-servizi-di-analisi/laboratorio-di-analisi-e-caratterizzazione-della-superficie.md) consente di definire le proprietà e lo stato superficiale di un materiale. La tomografia X, dal canto suo, è un mezzo per rispondere a questa esigenza. Infatti, ha lo scopo di controllare la conformità e le prestazioni del vostro materiale. Come riesce la tomografia a raggi X a farlo? Studiando…
- la composizione del materiale,
- la superficie fino al suo nucleo,
- e seguendone l’evoluzione in funzione di vincoli esterni.

 Si tratta di una tecnica di analisi e controllo dei materiali tramite imaging che utilizza l’interazione radiazione/materia. Ciò consente quindi di costruire immagini 3D della superficie analizzata. Inoltre, è una tecnica molto apprezzata in alcuni settori industriali poiché non è necessario distruggere il materiale per analizzarlo. Pertanto, per controllare la conformità e le prestazioni del vostro materiale, è opportuno eseguire un’analisi di superficie mediante tomografia X.
## FILAB vi supporta nelle vostre esigenze di analisi di superficie mediante tomografia X

Grazie a una significativa esperienza nell’analisi di superficie e nella caratterizzazione dei materiali, il laboratorio FILAB vi supporta nella comprensione del comportamento dei vostri prodotti e nella ricerca di soluzioni adeguate.

Il Laboratorio FILAB utilizza, tra l’altro, analisi tramite tomografia a raggi X, ma anche strumenti all’avanguardia come il [MEB](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-sem-edx.md)FEG-EDX, l’XPS o ancora l’[analisi AFM](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-tramite-microscopia-a-forza-atomica-afm.md).

## PER ANDARE + LONTANO

[Analisi di superficie mediante MEB](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-sem-edx/laboratorio-di-analisi-di-superficie-tramite-microscopio-elettronico-a-scansione-meb.md)

[Caratterizzazione morfologica dei materiali](https://filab.fr/it/i-nostri-servizi/i-nostri-servizi-di-analisi/filab-laboratorio-di-caratterizzazione-dei-materiali/analisi-di-caratterizzazione-morfologica-dei-materiali.md)

[Tomografia X per la fonderia](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/analisi-industriale-tramite-tomografia-a-raggi-x-in-laboratorio/analisi-di-superficie-mediante-tomografia-x.md)

[Analisi BET](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/analisi-e-misurazione-della-superficie-specifica-mediante-bet.md)e misurazione del volume di superficie specifica ([VSSA](https://filab.fr/it/i-nostri-servizi/rs/formazione-in-chimica-analitica-e-caratterizzazione-dei-materiali-in-laboratorio/formazione-alla-tecnica-bet-per-i-laboratori.md))

Analisi dell'estrema superficie mediante TOF-SIMS e XPS