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title: "I nostri mezzi tecnici per l’analisi e la caratterizzazione delle polveri in laboratorio"
description: "ICP AES Spettrometro di emissione atomica ICP AES a doppia osservazione assiale e radiale.Sistema simultaneo, sistema di iniezione in Teflon per soluzione HF, sistema di iniezione per matrice fortemente carica, analisi di soluzioni organiche.Ulteriori informazioni ICP - MS Spettrometro ICP..."
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tags: ["IT", "pll_627e16df7318c", "Thomas ROUSSEAU"]
timestamp: "2026-06-11T06:29:33Z"
published: "2026-06-10T13:49:01Z"
language: "it-IT"
author: "bwa"
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# I nostri mezzi tecnici per l’analisi e la caratterizzazione delle polveri in laboratorio

## ICP AES

Spettrometro di emissione atomica ICP AES a doppia osservazione assiale e radiale.

Sistema simultaneo, sistema di iniezione in Teflon per soluzione HF, sistema di iniezione per matrice fortemente carica, analisi di soluzioni organiche.

[Ulteriori informazioni](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-icp-icp-ms-icp-ms-ms-e-icp-aes-icp-oes.md)

## ICP - MS

Spettrometro ICP MS dotato di una DRC (Dynamic Reaction Cell).

Quadrupolo, limite di rilevazione fino al ppt, sistema di iniezione in Teflon per soluzione HF, rapporto isotopico.

[Ulteriori informazioni](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-icp-icp-ms-icp-ms-ms-e-icp-aes-icp-oes.md)

## DRX

DRX MINIFLEX II

Sorgente: rame

Intervallo angolare: da 0 a 120 °

Metodo di quantificazione tramite affinamento secondo il metodo di Rietveld

Banca dati ICDD / JCPD

[Ulteriori informazioni](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/analyse-et-caracterisation-des-materiaux-par-diffraction-des-rayons-x-drx-en-laboratoire/filab-caracterise-vos-mineraux-par-drx/)

## MEB FEG EDX

Microscopio elettronico a scansione ambientale (ESEM) accoppiato a una microsonda X dispersiva in energia (EDX)

Modalità High-Vac e Low-Vac per campioni conduttivi e isolanti – Rivelatore di elettroni secondari e retrodiffusi (contrasto topografico e chimico) – Analisi chimica semiquantitativa EDX (modalità puntuale, mappatura, rilevazione a partire dal boro).

[Ulteriori informazioni](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-sem-edx.md)

## Sorptometro (BET)

Micromeritics GEMINI VII

Misura della superficie specifica mediante adsorbimento di azoto

Superficie specifica superiore a 0,01 m²/g

6 postazioni di degasaggio

Cella da 6,5 e 8,9 cm3

Risoluzione P/P0 inferiore a 10-4

[Ulteriori informazioni](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/analisi-e-misurazione-della-superficie-specifica-mediante-bet.md)