---
type: "WebPage"
title: "Le nostre apparecchiature per la caratterizzazione delle superfici e l’analisi dei guasti in laboratorio"
description: "MEB FEG EDX Microscopio elettronico a scansione ambientale (ESEM) accoppiato a una microsonda a dispersione di energia (EDX)Modalità High-Vac e Low-Vac per campioni conduttivi e isolanti – Rivelatore di elettroni secondari e retrodiffusi (contrasto topografico e chimico) – Analisi chimica..."
resource: "https://filab.fr/it/i-nostri-servizi/i-nostri-servizi-di-expertise/analisi-e-studio-dei-guasti-in-laboratorio/le-nostre-apparecchiature-per-la-caratterizzazione-delle-superfici-e-lanalisi-dei-guasti-in-laboratorio/"
tags: ["IT", "pll_612901fca07cf", "Thomas GAUTIER"]
timestamp: "2026-06-11T06:28:14Z"
published: "2026-06-10T14:29:35Z"
language: "it-IT"
author: "bwa"
---

# Le nostre apparecchiature per la caratterizzazione delle superfici e l’analisi dei guasti in laboratorio

## MEB FEG EDX

Microscopio elettronico a scansione ambientale (ESEM) accoppiato a una microsonda a dispersione di energia (EDX)

Modalità High-Vac e Low-Vac per campioni conduttivi e isolanti – Rivelatore di elettroni secondari e retrodiffusi (contrasto topografico e chimico) – Analisi chimica semi-quantitativa EDX (modalità puntuale, mappatura, rilevamento a partire dal boro)

[Maggiori informazioni](https://filab.fr/it/i-nostri-mezzi-tecnici/laboratorio-di-analisi-sem-edx.md)

## Microscopio ottico

Microscopio ottico