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type: "WebPage"
title: "Nos équipements pour la caractérisation de surface et l’analyse de défaillances en laboratoire"
description: "MEB FEG EDX Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX) Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique..."
resource: "https://filab.fr/nos-equipements-pour-la-caracterisation-de-surface-et-l-analyse-de-defaillance/"
tags: ["FR", "pll_612901fca07cf", "Thomas GAUTIER"]
timestamp: "2025-12-31T08:54:42Z"
published: "2021-08-04T16:39:30Z"
language: "fr-FR"
author: "bwa"
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# Nos équipements pour la caractérisation de surface et l’analyse de défaillances en laboratoire

## MEB FEG EDX

Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)

Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant – Détecteur d’électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) – Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)

[Plus d’informations](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-d-analyses-par-microscopie-electronique-a-balayage-meb-edx.md)

## Microscope optique

Microscope optique