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title: "Etudes de Défaillances par Tomographie X en laboratoire"
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timestamp: "2025-12-31T08:32:29Z"
published: "2025-04-09T12:48:24Z"
language: "fr-FR"
author: "Laure Durieux"
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# Etudes de Défaillances par Tomographie X en laboratoire

## Vous souhaitez réaliser des études de défaillances par Tomographie X

### Les études de défaillances en laboratoire

**Les [études de défaillances](https://filab.fr/nos-prestations/expertise/labo-analyse-etude-de-defaillance.md)**, aussi appelées **analyses de défaillances ou analyse d’avaries**, consiste en une démarche scientifique et technique qui visent à **identifier l’origine d’un problème sur un produit, un matériau ou un process**.

Elle interviennent généralement **après l’apparition d’un [défaut](https://filab.fr/nos-prestations/analyse/laboratoire-caracterisation-des-materiaux/analyse-defaut-mecanique.md), d’une panne ou d’un dysfonctionnement**, dans le but de comprendre **pourquoi** cela s’est produit et **comment éviter que cela se reproduise**.

### Pourquoi réaliser des études de défaillances par Tomographie X ?

Lorsqu’un produit présente un dysfonctionnement, un défaut ou une casse en cours de vie ou en production, **l’identification rapide et précise de la cause racine** est essentielle. Dans de nombreux cas, les défaillances prennent naissance **au cœur de la matière**et les techniques conventionnelles ne permettent pas de les identifier sans altérer l’échantillon.

Grâce à la **tomographie à rayons X**, il est désormais possible de **visualiser l’intérieur des matériaux ou des assemblages de manière non destructive**, en 3D, et avec une très haute résolution.

## FILAB détient une expertise en étude de défaillance.

### La tomographie X au service de l'étude de défaillance

Au laboratoire FILAB, notre approche des études de défaillance par tomographie X repose sur **une combinaison d’expertise, de technologie de pointe et de réactivité terrain**.

Nos analyses sont menées par **une équipe d’ingénieurs spécialisés dans l’interprétation des données 3D**, capables de relier les observations à votre réalité industrielle.

Nous apportons également **une expertise transverse sur les matériaux, les procédés de fabrication et les conditions de mise en œuvre**, pour replacer chaque défaillance dans son contexte global.

 ![schéma tomographie X def](https://filab.fr/wp-content/uploads/elementor/thumbs/schema-tomographie-X-def-r3v7mgc9ujtjwekct0yk82waw97pfyh75t9jgy950g.png)
### Nos autres moyens techniques pour l'étude de défaillances

Le laboratoire FILAB met à disposition des industriels divers moyens techniques et un parc analytique de pointe complémentaire en fonction des études de défaillances à réaliser :

### MEB

### Chromatographie Gazeuse

### ICP

### IRTF

### DSC

### DRX

Microscopie Électronique à Balayage à effet de champ couplée à une microsonde ([analyse MEB-EDX](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-d-analyses-par-microscopie-electronique-a-balayage-meb-edx.md) sollicitée pour la caractérisation topographique et chimique de surface)

Chromatographie Gazeuse couplée à un détecteur de type Spectromètre de Masse ([GC-MS](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-analyse-pyrolyse-gcms.md) pour l’identification et la quantification de molécules organiques chromatographiables)

Spectrométrie d'Émission à Plasma ([ICP-AES - ICP-MS](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-danalyses-par-icp-icp-ms-et-icp-aes-icp-oes.md) pour l’analyse chimique élémentaire et l’identification de pollution)

Spectroscopie Infrarouge ([IRTF](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-danalyses-chimiques-par-irtf-ftir.md)), la Calorimétrie Différentielle à Balayage ([DSC](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-analyses-dsc.md)), la Diffraction des Rayons X ([DRX](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/analyse-et-caracterisation-des-materiaux-par-diffraction-des-rayons-x-drx-en-laboratoire.md))

### Pourquoi choisir la Tomographie X pour vos études de défaillances ?

La technique d’analyse par Tomographie X permet de : 

Identifier des **défauts internes** : [porosité](https://filab.fr/nos-moyens-techniques/laboratoire-analyse-porosimetrie-mercure.md), [fissure](https://filab.fr/nos-prestations/expertise/labo-analyse-etude-de-defaillance/laboratoire-analyse-fissure.md), inclusions, délaminations, mauvais assemblages…

Évaluer la **distribution spatiale des défauts**

Analyser **sans détériorer** l’échantillon, ce qui est crucial pour les composants à haute valeur ajoutée

Réaliser des **coupes virtuelles** dans la pièce, sous tous les angles

Comparer un produit conforme et un produit défaillant

## FAQ

 Qu’est-ce que la Tomographie X ?
La Tomographie X est une technique d’imagerie non destructive qui permet d’obtenir une **reconstruction 3D de l’intérieur d’un objet**. Elle fonctionne comme un scanner médical, mais avec une bien plus haute résolution, adaptée aux matériaux et composants industriels.

 Pourquoi utiliser la Tomographie X dans le cadre d’une étude de défaillance ?
Elle permet de **localiser et caractériser les défauts internes** sans avoir à découper ou démonter la pièce. Cela est particulièrement utile pour analyser des défaillances sur des composants complexes, fragiles ou coûteux, sans les détériorer.

 Sur quels matériaux ou produits la tomographie X est-elle applicable ?
La tomographie X s’adapte à une grande variété de matériaux : **métaux, polymères, céramiques, composites, etc.** Elle est particulièrement performante sur des pièces injectées, moulées, usinées ou assemblées, dans des secteurs comme le **médical, l’aéronautique, l’automobile, le luxe ou l’électronique**.

 Est-ce que l’échantillon est détruit pendant l’analyse ?
Non, c’est tout l’intérêt de la tomographie X : elle permet une **analyse non destructive**. La pièce reste intacte, ce qui est idéal lorsqu’elle est précieuse, unique ou difficilement reproductible.

 Peut-on combiner la Tomographie X avec d’autres analyses ?
Oui, et c’est même recommandé. Au laboratoire filab, nous associons souvent la tomographie X à d’autres techniques (MEB, EDS, DRX, FTIR…) pour **croiser les données** et remonter plus efficacement à la cause racine de la défaillance.