La superficie di un materiale costituisce una zona esposta a numerose interazioni con l’ambiente, la cui qualità condiziona i processi industriali (incollaggio, applicazione di rivestimenti, …) e le diverse prestazioni d’uso (resistenza alla corrosione, …).
Per questi processi e applicazioni, è quindi strategico caratterizzare la pulizia di una superficie di materiale ma anche identificare la natura chimica di un’eventuale contaminazione o di un eventuale deposito che può essere all’origine di una perdita di prestazioni o dell’innesco di guasti (corrosione, distacco, rottura, …).
La potenziale natura di questi depositi o contaminazioni può essere molto variabile; la prima fase dell’approccio di caratterizzazione del deposito consiste quindi nell’effettuare una diagnosi per valutare la natura chimica generale di queste contaminazioni (deposito), che può essere organica, minerale e/o metallica. Questo primo studio viene realizzato mediante Microscopia Elettronica a Scansione accoppiata a una microsonda EDX, che consente di determinare da un punto di vista semi-quantitativo la composizione chimica elementare della superficie del materiale, ma anche di valutare l’omogeneità o l’eterogeneità chimica di queste aree. Grazie al carattere non distruttivo di questo strumento preliminare di caratterizzazione, la contaminazione o il deposito può poi essere indirizzato verso altri mezzi di indagine più specifici per le nature minerali, organiche e metalliche, consentendo una caratterizzazione più approfondita del deposito.
Nel caso delle nature organiche, i mezzi di caratterizzazione complementari del deposito privilegiati saranno la Cromatografia Gassosa accoppiata a un rivelatore di tipo Spettrometro di Massa (GC-MS), la Spettroscopia Infrarossa (IRTF o µ-IRTF) oppure la Spettrometria di Massa di Ioni Secondari (ToF-SIMS).
Le tecniche di analisi cristallografica come la Diffrazione dei Raggi X o di analisi di superficie come la Spettroscopia di Fotoelettroni X saranno invece suggerite nel caso di nature minerali del deposito.
Infine, la spettrometria di emissione ottica al plasma (ICP-AES o ICP-MS) sarà impiegata in presenza di un deposito o di una contaminazione metallica.
Forti di una significativa esperienza nell’implementazione di tutti questi strumenti di caratterizzazione, FILAB vi accompagna nelle vostre esigenze di identificazione di depositi e di qualificazione della pulizia.
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