Ihr Bedarf: den Grad der Oberflächenreinheit eines Produkts kontrollieren
Warum die Oberflächenreinheit mittels REM analysieren?
Für zahlreiche Anwendungsbereiche (Medizin, Luft- und Raumfahrt, Automobilindustrie, Elektronik, …) steht die Funktionalität eines Produkts in direktem Zusammenhang mit seiner Oberfläche.
Tatsächlich kann das Vorhandensein von chemischer Kontamination oder partikulärer Verunreinigung an der Oberfläche infolge der verschiedenen Schritte des Herstellungsprozesses die Eigenschaften eines Werkstoffs beeinträchtigen.
Um die Oberflächenreinheit eines Produkts und damit seine Qualität zu gewährleisten, ist es daher unerlässlich, ein Reinigungsprogramm einzuführen, das speziell auf die im Rahmen der Herstellung des Artikels eingesetzten Stoffe abgestimmt ist.
Darüber hinaus ist die bevorzugte Technik zur Bewertung der Oberflächenreinheit die Rasterelektronenmikroskopie (REM-FEG) in Kombination mit einer EDX-Mikrosonde.
Dieser Ansatz bietet den Vorteil, die räumliche Verteilung der Verunreinigungen auf der Oberfläche des Bauteils kartieren zu können.
FILAB stellt Ihnen ein hochmodernes REM-FEG-EDX zur Verfügung, um Ihre Oberflächenreinheit zu bewerten
Von der Analyse über F&E bis hin zur Expertise und Validierung von Reinigungsverfahren bietet das FILAB-Labor branchenübergreifende Kompetenz für verschiedene Anfragen im Zusammenhang mit der Oberflächenreinheit von Werkstoffen:
Unsere Fachgebiete
Partikel- und chemische Kartierung mittels REM-FEG-EDX der Oberfläche von Bauteilen aus dem Luft- und Raumfahrtsektor (Metall und Keramik) nach einer kundenspezifischen, im Labor übertragenen und validierten Methodik
Analyse der partikulären Reinheit von Drehteilen für die Luft- und Raumfahrt sowie die Automobilindustrie gemäß den Normen ISO 16232 und VDA19
Partikuläre Kontamination in Injektionspräparaten und parenteralen Infusionen (USP 788, PE 2.9.19 Methode 2, …)
Analyse und Kontrolle der Gravimetrie (gemäß Norm NF E 48-652)
Durchführung der Partikelzählung gemäß Norm E-48-660 und ISO 4406
Kontrolle des Oberflächenzustands mittels REM-FEG-EDX von Zahnimplantaten nach der Behandlung zur Untersuchung organischer Kontaminationen und von Rückständen aus Oberflächenbehandlungen wie Kugelstrahlen, Sandstrahlen, … (Clean Implant)
Partikuläre Kontamination und chemische Charakterisierung von Medizinprodukten gemäß ISO 10993, ISO 19227
Identifizierung der Partikelart mittels REM-FEG-EDX und FTIR in Lösungen für pharmazeutische Anwendungen.
Identifizierung von Partikeln mittels REM-EDX oder LM gemäß den Normen NF E 48-651 und 48-660
unsere weiteren technischen Verfahren
Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Chromatographische Techniken (GC-FID, GCMS, LCMS, …)
