Microscopio Electrónico de Barrido (MEB), ¿de qué se trata?
El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB o SEM en inglés, por Scanning Electron Microscopy) es una técnica de caracterización que permite obtener imágenes de la superficie de una muestra con alta resolución. Utilizando el principio de las interacciones electrón-materia, el MEB ofrece una resolución mucho mejor que la de los microscopios ópticos tradicionales, limitada por la longitud de onda de la luz visible así como por la calidad de las lentes ópticas.
Un MEB está compuesto por una columna electrónica, un cañón de electrones (un cañón de electrones que permite impactar la superficie de la muestra), detectores y una platina que permite desplazar el objeto a analizar.
Hoy en día, este aparato se utiliza en numerosos ámbitos industriales para analizar las propiedades superficiales de un material o para caracterizar un fallo o una contaminación (partícula, depósito, fisura…).
Una historia iniciada a principios de los años 30…
Es en Alemania donde comienzan los primeros trabajos en torno al diseño de un aparato óptico electrónico. A principios de los años 30, Max Knoll desarrolla un analizador de haz de electrones, que integra en lo que fue el primer Microscopio Electrónico de Transmisión.
Algunos años más tarde, el científico Manfred Von Ardenne completa estos trabajos añadiendo bobinas de barrido: en 1938, construye el primer Microscopio Electrónico de Barrido.
Es en Inglaterra, y más concretamente en la Universidad de Cambridge, donde continúa la historia del MEB. Charles Oatley y Dennis Mc Mullan logran a finales de los años 40 obtener una imagen en relieve, característica de los MEB «modernos». Este avance se completa con los trabajos de T.E. Everhart y R.F.M Thornley, que dan lugar a un nuevo detector capaz de detectar electrones secundarios.
Muy pronto, los primeros prototipos de MEB se instalan en los años 60 en Alemania, en Inglaterra o incluso en Francia…
Nuevas aplicaciones modernas del MEB
Desde entonces, numerosas innovaciones han permitido ampliar las prestaciones y los ámbitos de aplicación del Microscopio Electrónico de Barrido. He aquí algunos ejemplos:
- MEB digital que integra el control manual y la digitalización directa
- MEB de doble columna (FIB)
- MEB de alta resolución (FEG) que permite alcanzar aumentos del orden de 100 000. Asimismo, las imágenes 3D y en color también han contribuido a una mayor precisión y una mejor legibilidad.
- MEB EDS/EDX, para diagnósticos de naturaleza química (análisis elementales semicuantitativos)
- Microscopio ambiental (ESEM) que incluye modos de presión controlada para muestras poco conductoras (especialmente vidrios o plásticos).
- MEB EBSD, para la caracterización de microestructuras y propiedades cristalográficas
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Nuestro laboratorio cuenta con dos MEB-FEG acoplados a una sonda EDX y un MEB-FEG acoplado a una sonda EBSD para ampliar nuestro campo de especialización y alcanzar un mayor nivel de caracterización de superficie extrema, para prestaciones como:
- La identificación de la naturaleza química
- El control de tratamientos de tipo capas finas
- La búsqueda de contaminación
- La búsqueda de inclusiones
- La pericia de fallos
- El análisis de problemáticas de desprendimiento o falta de adherencia
