¿Qué modos y qué aplicaciones del AFM?
El laboratorio FILAB tuvo el placer de anunciarles la llegada del AFM al parque analítico de Dijon a principios de septiembre de 2022. Se ha equipado con unFX40 Automatic AFM que estádotado de IA. Permite realizar análisis de forma más rápida y fiable. Así, FILAB se convierte en el primer laboratorio equipado con un AFM dotado de IA en Europa.
El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM, por Atomic Force Microscope) es un microscopio de sonda local de alta resolución que permite visualizar la topografía de la superficie de una muestra, pero también la tribología, el comportamiento mecánico, eléctrico o químico.
Este método permite analizar punto por punto la superficie de la muestra gracias al barrido de una sonda constituida por una punta nanométrica. Este microscopio ofrece, por tanto, la posibilidad de estudiar lo infinitamente pequeño.
Según la problemática planteada, el AFM ofrece varios modos: el modo contacto y el modo no contacto. Pero entonces, ¿qué modos se utilizan para qué aplicaciones?
El modo sin contacto
- El modo sin contacto del AFM permite medir la topografía de la muestra sin dañarla.
El modo contacto
En cuanto al modo contacto del AFM, también permite medir la topografía (aunque se utiliza menos), pero sobre todo realizar diversas medidas:
- mecánicas
- eléctricas
- magnéticas
Para ello, es necesario adaptar el tipo de punta según la muestra (constante de rigidez y aplicación).
Descubra los diferentes modos de contacto del AFM:
El modo mecánico FMM
Entre todos los modos de contacto, el modo mecánico FMM permite realizar medidas de propiedades mecánicas (módulo de Young, deformación, adhesión)
El modo mecánico de nanoindentación
El modo mecánico de nanoindentación, por su parte, permite realizar diferentes medidas:
Medidas de dureza y módulo de Young
Medidas del área de indentación para calcular la dureza
El modo eléctrico C-AFM pinpoint
Medir propiedades eléctricas (corriente, resistencia, espectroscopia I/V)
Aplicar una tensión entre la punta y la muestra
Corriente de fuga observada en c-AFM sobre un componente SRAM (contacto con la zona dopada n por debajo)
(tensión constante aplicada durante la imagen)
Imágenes a diferentes tensiones y espectroscopia en un punto
Cartografía de corriente sobre una película de pentaceno depositada sobre Ni (111)
El modo eléctrico EFM pinpoint
Este modo tiene como objetivo realizar:
- mediciones de propiedades electrostáticas (tensiones superficiales)
- aplicaciones de una tensión entre la punta y la muestra
Grafito pirolítico altamente orientado (HOPG)
Medición del potencial de superficie, trabajo de salida (medición KPFM):
Partículas sobre Si
Puesta en evidencia de nanohilos en PET (medición EFM):
El modo magnético MFM
Con este modo magnético MFM, podrán realizarse medidas de propiedades magnéticas (diferenciación de dominios magnéticos).
