Desiderate realizzare studi di guasto mediante tomografia X
Gli studi di guasto in laboratorio
Gli studi di guasto, chiamati anche analisi di guasto o analisi di avarie, consistono in un approccio scientifico e tecnico che mira a identificare l’origine di un problema su un prodotto, un materiale o un processo.
Intervengono generalmente dopo la comparsa di un difetto, di un guasto o di un malfunzionamento, con l’obiettivo di capire perché ciò sia accaduto e come evitare che si ripeta.
Perché realizzare studi di guasto mediante tomografia X?
Quando un prodotto presenta un malfunzionamento, un difetto o una rottura durante il ciclo di vita o in produzione, l’identificazione rapida e precisa della causa radice è essenziale. In molti casi, i guasti hanno origine nel cuore del materiale e le tecniche convenzionali non consentono di identificarli senza alterare il campione.
Grazie alla tomografia a raggi X, è oggi possibile visualizzare l’interno dei materiali o degli assemblaggi in modo non distruttivo, in 3D e con una risoluzione molto elevata.
FILAB possiede un’expertise negli studi di guasto.
La tomografia X al servizio dello studio di guasto
Nel laboratorio FILAB, il nostro approccio agli studi di guasto mediante tomografia X si basa su una combinazione di competenza, tecnologia all’avanguardia e reattività sul campo.
Le nostre analisi sono condotte da un team di ingegneri specializzati nell’interpretazione dei dati 3D, in grado di collegare le osservazioni alla vostra realtà industriale.
Mettiamo inoltre a disposizione un’expertise trasversale sui materiali, sui processi di fabbricazione e sulle condizioni di impiego, per contestualizzare ogni guasto nel suo quadro globale.
I nostri altri mezzi tecnici per lo studio dei guasti
Il laboratorio FILAB mette a disposizione delle aziende diversi mezzi tecnici e un parco analitico all’avanguardia, complementare in funzione degli studi di guasto da realizzare:
MEB
Cromatografia Gassosa
ICP
IRTF
DSC
DRX
Microscopia Elettronica a Scansione a effetto di campo accoppiata a una microsonda (analisi MEB-EDX richiesta per la caratterizzazione topografica e chimica della superficie)
Cromatografia Gassosa accoppiata a un rivelatore di tipo Spettrometro di Massa (GC-MS per l’identificazione e la quantificazione di molecole organiche cromatografabili)
Spettrometria di Emissione al Plasma (ICP-AES - ICP-MS per l’analisi chimica elementare e l’identificazione di contaminazioni)
Perché scegliere la Tomografia X per i vostri studi di guasto?
La tecnica di analisi tramite Tomografia X consente di:
Valutare la distribuzione spaziale dei difetti
Analizzare senza deteriorare il campione, il che è fondamentale per i componenti ad alto valore aggiunto
Realizzare sezioni virtuali nel pezzo, da ogni angolazione
Confrontare un prodotto conforme e un prodotto difettoso
FAQ
La Tomografia X è una tecnica di imaging non distruttiva che consente di ottenere una ricostruzione 3D dell’interno di un oggetto. Funziona come una TAC medica, ma con una risoluzione molto più elevata, adatta ai materiali e ai componenti industriali.
Consente di localizzare e caratterizzare i difetti interni senza dover tagliare o smontare il pezzo. Questo è particolarmente utile per analizzare guasti su componenti complessi, fragili o costosi, senza deteriorarli.
La tomografia X si adatta a un’ampia varietà di materiali: metalli, polimeri, ceramiche, compositi, ecc. È particolarmente performante su pezzi stampati a iniezione, fusi, lavorati o assemblati, in settori come il medicale, l’aeronautica, l’automotive, il lusso o l’elettronica.
No, è proprio questo il vantaggio della tomografia X: consente un’analisi non distruttiva. Il pezzo rimane intatto, il che è ideale quando è prezioso, unico o difficilmente riproducibile.
Sì, ed è persino consigliato. Nel laboratorio filab, associamo spesso la tomografia X ad altre tecniche (MEB, EDS, DRX, FTIR…) per incrociare i dati e risalire più efficacemente alla causa radice del guasto.
