Los defectos no siempre provienen de un problema de geometría o de pulido en entornos ópticos exigentes. De hecho, a menudo el origen es más discreto: puede tratarse de una contaminación superficial invisible.
Naturaleza de las contaminaciones invisibles
Estas contaminaciones no corresponden necesariamente a partículas detectables al microscopio óptico. Pueden ser películas orgánicas nanométricas, residuos iónicos o incluso contaminaciones procedentes de los procesos de mecanizado, manipulación, limpieza o almacenamiento.
A simple vista, la superficie parece conforme. Sin embargo, su estado químico puede haberse modificado profundamente. Incluso siendo extremadamente fina, esta alteración basta para perturbar un sistema óptico sensible.
Contaminaciones invisibles
Estos defectos rara vez aparecen de inmediato. Surgen durante ensayos climáticos, en vacío o en servicio operativo. El diagnóstico es entonces complejo, porque la contaminación inicial no era ni visible ni buscada.
Suele ser en esta fase (defecto de adherencia, deriva óptica, no conformidad en la cualificación) cuando se vuelve necesaria una experiencia analítica para identificar el origen real de la falla.
Control y anticipación
La cuestión no es, por tanto, solo la limpieza visual, sino la limpieza química y molecular de la superficie.
La identificación requiere análisis y peritajes adaptados como el análisis químico de superficie (mediante XPS), la detección de residuos orgánicos (TOF-SIMS), la búsqueda de iones extraíbles o la caracterización de la energía superficial.
Sin este enfoque, el riesgo es atribuir el defecto al recubrimiento o al material, cuando la causa se sitúa aguas arriba, en el estado inicial de la superficie.
Estas investigaciones permiten:
Tanto en fase de desarrollo como en estudio de fallo (estudio de avería), recurrir a un laboratorio especializado como FILAB permite objetivar el estado químico real de las superficies y garantizar el rendimiento óptico a largo plazo.
