Si el análisis químico elemental permite identificar y cuantificar los elementos constitutivos de un material, la Difracción de Rayos X (DRX) permite, por su parte, acceder a numerosas informaciones contenidas en la propia disposición de los elementos dentro de un material. Permite, en particular, identificar el o los compuestos cristalizados presentes en un material, así como sus formas cristalográficas.
Cuando se identifican varios compuestos cristalizados en un mismo material, la técnica de Difracción de Rayos X también puede aplicarse de forma cuantitativa para determinar los contenidos respectivos de los distintos compuestos observados. Para ello, se utiliza habitualmente la técnica de refinamiento según el método de Rietveld. Consiste en simular un difractograma a partir de una base de datos y ajustarlo progresivamente lo más posible al difractograma de la muestra: la composición química de la simulación más cercana al difractograma de la muestra se considera entonces como la composición química de dicha muestra. No obstante, cabe señalar que este método iterativo es a veces complejo, largo y difícil de aplicar según la naturaleza de la muestra y de los compuestos cristalizados que la constituyen.
Esta metodología puede adaptarse al control de la pureza de materiales cerámicos, la cuantificación de fases cristalinas extrañas en sustitutos óseos, el control de la formulación de materiales cementicios, la caracterización de escorias de fundición, la identificación de impurezas en materiales refractarios o incluso la identificación de formas alotrópicas de pigmentos minerales.
Con una experiencia significativa en el desarrollo de métodos específicos mediante DRX, FILAB le acompaña en sus necesidades de control, peritaje o desarrollo de procesos para sus materiales cristalizados y minerales.
