Le vostre esigenze: controllare il livello di pulizia superficiale di un prodotto
Perché analizzare la pulizia superficiale tramite SEM?
Per numerosi settori di applicazione (medicale, aeronautico, automobilistico, elettronica, …), la funzionalità di un prodotto è direttamente legata alla sua superficie.
Infatti, la presenza di contaminazione chimica o di inquinamento particellare in superficie a seguito delle diverse fasi del processo di fabbricazione può influire sulle caratteristiche di un materiale.
Pertanto, per garantire la pulizia superficiale di un prodotto e quindi la sua qualità, è essenziale mettere in atto un programma di pulizia specifico per le sostanze coinvolte nella fabbricazione dell’articolo.
Inoltre, la tecnica privilegiata per valutare la pulizia di una superficie è la Microscopia Elettronica a Scansione (MEB-FEG) accoppiata a una microsonda EDX.
Questo approccio presenta il vantaggio di poter mappare la distribuzione spaziale dei contaminanti sulla superficie del pezzo.
FILAB mette a vostra disposizione un MEB-FEG-EDX all’avanguardia per valutare la pulizia delle vostre superfici
Dall’analisi alla R&S, passando per l’expertise e la validazione dei processi di pulizia, il laboratorio FILAB offre un’expertise multisettoriale per rispondere a diversi tipi di richieste legate alla pulizia superficiale dei materiali:
Le nostre competenze
Mappatura particellare e chimica tramite MEB-FEG-EDX della superficie di componenti del settore aerospaziale (metallici e ceramici) secondo una metodologia cliente trasferita e validata presso il nostro laboratorio
Analisi della pulizia particellare di pezzi torniti destinati ai settori aeronautico e automobilistico secondo le norme ISO 16232 e VDA19
Contaminazione particellare nei prodotti iniettabili e nelle infusioni parenterali (USP 788, PE 2.9.19 metodo 2, …)
Analisi e controllo della gravimetria (secondo la norma NF E 48-652)
Esecuzione del conteggio particellare secondo la norma E-48-660 e ISO 4406
Controllo dello stato superficiale tramite MEB-FEG-EDX di impianti dentali dopo trattamento per la ricerca di contaminazione organica e di residui di trattamento superficiale di tipo pallinatura, sabbiatura, … (Clean Implant)
Contaminazione particellare e caratterizzazione chimica dei dispositivi medici secondo ISO 10993, ISO 19227
Identificazione della natura delle particelle tramite MEB-FEG-EDX e microscopia IRTF in soluzioni per uso farmaceutico.
Identificazione delle particelle tramite SEM-EDX o MO secondo le norme NF E 48-651 e 48-660
i nostri altri mezzi tecnici
Spettrometria di Massa di Ioni Secondari a tempo di volo (ToF-SIMS)
Tecniche di cromatografia (GC-FID, GCMS, LCMS, …)
