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A la vanguardia de la caracterización: el MEB-FEG

MEB: una herramienta a la vanguardia de la caracterización de materiales

Basándose en el principio de la interacción electrón-materia, la Microscopía Electrónica de Barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscopy) es una técnica de caracterización de vanguardia que permite producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra. El uso, por parte de los microscopios electrónicos, de electrones asociados a longitudes de onda más cortas que las de los fotones de la luz visible ofrece una resolución mucho mejor que la de los microscopios ópticos tradicionales.

Observación mediante MEB

Aunque la tecnología de emisión termoiónica de los electrones utilizada en el marco de la Microscopía Electrónica de Barrido ha sido ampliamente empleada durante muchos años (filamento de tungsteno o cátodo de hexaboruro de lantano), la alternativa de los cañones de emisión de campo (FEG en inglés, Field Emission Gun) que se propone hoy en día permite alcanzar mejores prestaciones, necesarias para las aplicaciones analíticas exigentes y la muy alta resolución. En estos cañones, los electrones se extraen por efecto túnel de un cátodo metálico con forma de punta muy fina sometido a una tensión eléctrica. El brillo así obtenido es mucho mayor que el logrado con las fuentes termoiónicas. De este modo, la observación de la superficie de las muestras a bajo voltaje con una fuente de emisión FEG reduce la penetración del haz y mejora así la resolución.

La observación de finas estructuras superficiales a muy bajo voltaje y con muy alto aumento permite, por tanto, a los usuarios revelar el más mínimo detalle de la superficie. Estas nuevas herramientas de tipo MEB-FEG permiten así alcanzar aumentos del orden de 1000000, manteniendo al mismo tiempo la posibilidad de trabajar en modo Low Vacuum para la caracterización de muestras no conductoras.

La llegada a nuestra plataforma técnica del MEB-FEG permite hoy a Filab ampliar su campo de especialización y alcanzar la caracterización de superficie extrema, como la identificación de la naturaleza química o el control de tratamientos de tipo capas finas, la búsqueda de contaminación, la peritación de fallos, las problemáticas de despegado o falta de adherencia, …

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