Dall’aerospazio all’elettronica: il ruolo chiave della scansione 3D a raggi X

Caratterizzazione dei materiali Risoluzione dei problemi Supporto alla R&D
+140 collaboratori
+140 collaboratori al vostro ascolto
5200 m² di laboratorio
5200 m² di laboratorio + 99% delle prestazioni sono realizzate internamente
Laboratorio accreditato
Laboratorio accreditato COFRAC ISO 17025
Dassault Aviation
Dassault Aviation Certificazione
Safran
Safran Certificazione

Operatori dell’aerospazio e dell’elettronica, desiderate realizzare un’analisi specialistica tramite scansione 3D a raggi X

La tecnica di scansione 3D a raggi X per l’aerospazio e l’elettronica

Innanzitutto, la tecnica di analisi tramite scansione 3D a raggi X, o tomografia X, è una tecnica di analisi e controllo dei materiali mediante l’interazione tra radiazione e materia.

Questa tecnica di analisi consente di visualizzare l’interno di un oggetto, senza doverlo tagliare, smontare o danneggiare. Permette una visione completa, tridimensionale e non distruttiva della struttura interna di un componente, anche complesso.

La scansione 3D a raggi X: uno scanner ad alta precisione al servizio dell’aerospazio e dell’elettronica

La scansione 3D a raggi X è una tecnica di imaging non distruttivo che consente di visualizzare in 3 dimensioni l’interno di un componente con una risoluzione molto elevata. Grazie a essa, ottenete una mappatura completa dei vostri pezzi, senza doverli sezionare.

Questa tecnica di analisi, applicata a diversi settori, dall’aerospazio all’elettronica, consente di:

Rilevare e localizzare con precisione difetti interni (porosità, cricche, inclusioni…)

Controllare l’omogeneità del materiale

Misurare le 3 dimensioni di un componente

Misurare i volumi dei difetti o delle aree di interesse (volume di porosità, tasso di riempimento…)

Confrontare un pezzo reale con il suo modello teorico

Scansione 3D a raggi X: le sfide per un operatore dell’aerospazio e dell’elettronica

Difetti interni, porosità, inclusioni nei componenti, deformazioni, problemi di saldatura… I componenti provenienti dall’aerospazio e dall’elettronica devono rispondere a rigorosi requisiti di qualità.

Questi difetti sono spesso invisibili a occhio nudo e inaccessibili alle tecniche di analisi tradizionali. La tecnica di scansione 3D a raggi X consente di superare questa difficoltà. 

Le applicazioni frequenti della tecnica di scansione 3D a raggi X

applicazioni

Aerospaziale

Qualifica di lotti o di nuovi fornitori

Analisi di non conformità (reso cliente, reclamo)

Analisi a seguito di una rottura o di un difetto di prestazione

R&S o ottimizzazione dei processi

applicazioni

Elettronica

Ispezione dei componenti montati in superficie (verifica delle saldature, rilevamento di cricche, analisi dei connettori interni)

Controllo di assemblaggi multistrato (ispezione di circuiti stampati)

Analisi dimensionale e delle deformazioni

Rilevamento dei guasti e analisi dei malfunzionamenti

Controllo di batterie e micro-sensori

Il laboratorio FILAB vi affianca nell’analisi tramite scansione 3D a raggi X per l’aerospazio e l’elettronica

Perché scegliere FILAB per un’analisi tramite scansione 3D a raggi X?

Il laboratorio FILAB è dotato di sistemi di scansione 3D a raggi X ad alta risoluzione, in grado di analizzare componenti di dimensioni varie con grande precisione.

I nostri ingegneri dei materiali, esperti in aerospazio ed elettronica, padroneggiano i processi di questi settori e sono in grado di dialogare efficacemente con i vostri team.

Oltre alla semplice acquisizione di immagini, forniamo un’interpretazione su misura dei risultati: un rapporto chiaro, utilizzabile e contestualizzato in base alle vostre esigenze industriali.

Infine, dimostriamo una grande reattività. Consapevoli che le vostre esigenze possono essere critiche, adattiamo le nostre tempistiche ai vostri vincoli di produzione o di qualificazione.

I nostri altri metodi di caratterizzazione dei materiali

Utilizzando tra l’altro la tecnica di scansione 3D a raggi X, ma anche strumenti all’avanguardia come il MEB FEG-EDX, la DRX o ancora le misure tramite BET, il laboratorio FILAB propone diversi tipi di servizi di analisi superficiale per l’aerospazio o l’elettronica :

Caratterizzazione dei materiali : metalli, polimeri, ceramiche, vetri, compositi…

Analisi di superficie e caratterizzazione dei rivestimenti

Analisi di superficie tramite microtomografia X

FAQ

Qual è la risoluzione di analisi raggiungibile con la scansione 3D a raggi X?

A seconda del tipo di apparecchiatura utilizzata, è possibile raggiungere risoluzioni dell’ordine di pochi micron. Ciò consente di visualizzare con precisione dettagli molto fini, come i fili di bonding, i vias interni o i difetti nelle saldature.

In che modo questa tecnica è complementare agli altri metodi di controllo?

A differenza di tecniche come il taglio metallografico o il microattacco, la scansione 3D a raggi X è completamente non distruttiva. Può quindi essere utilizzata a monte della produzione, nel corso di vita del prodotto o nell’ambito di un’analisi dei guasti senza alterare il componente.

È possibile utilizzare questo metodo nell’ambito di un controllo qualità in produzione?

Sì, a condizione di adattare i parametri alla cadenza e ai requisiti della linea. In R&D, in ambito di consulenza tecnica o nel controllo qualità puntuale, la tomografia è ideale per verificare la conformità interna dei pezzi, senza costi aggiuntivi legati alla loro distruzione.

Questa tecnica è adatta all’analisi dei guasti (failure analysis)?

Assolutamente. Consente di indagare senza smontaggio le origini di un guasto elettronico : difetto di saldatura, cricca, cortocircuito interno, errore di posizionamento… Un vero guadagno di tempo e di precisione nell’identificazione delle cause radice.

I vantaggi di Filab
Un team altamente qualificato
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Una reattività nella risposta e nella gestione delle richieste
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Un laboratorio accreditato COFRAC ISO 17025
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(Ambiti disponibili su www.cofrac.com - N° accreditamento: 1-1793)
Un parco analitico completo di 5 200 m²
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Un supporto su misura
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Possibile visio-debrief con l
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Thomas GAUTIER Responsabile del Dipartimento Materiali
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