Ihre Anforderungen: die chemische Zusammensetzung der äußersten Oberfläche einer Probe mittels FIB-TOF-SIMS-Analysen charakterisieren
Was ist FIB-TOF-SIMS?
Das Sekundärionen-Massenspektrometer mit Flugzeitmessung (ToF-SIMS, englisch für Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) ist eine Bildgebungs- und Analysetechnik, mit der elementare und molekulare Informationen über die an der äußersten Oberfläche von Festkörperproben vorhandenen Spezies gewonnen werden können.
Kurz gesagt liefert sie Informationen über die chemische Zusammensetzung, die räumliche Verteilung der Elemente und die chemischen Bindungen der Probe.
Diese Technik kann auf eine große Vielfalt von Materialien angewendet werden, darunter Polymere, Metallwerkstoffe, Keramiken und Verbundwerkstoffe, ohne dass eine aufwendige Probenvorbereitung erforderlich ist.
Das FIB (Focused Ion Beam): verwendet einen fokussierten Ionenstrahl, um Material von der Probenoberfläche abzutragen und Querschnitte in der Probe zu erzeugen.
FIB-TOF-SIMS ist eine leistungsstarke und vielseitige Technik für die Materialanalyse und bietet einzigartige Möglichkeiten in Bezug auf Auflösung, Empfindlichkeit und dreidimensionale Analyse. Sie spielt eine entscheidende Rolle bei der Qualitätssicherung und Produktsicherheit sowie in der Forschung und Entwicklung neuer Materialien.
Warum eine FIB-TOF-SIMS-Analyse im Labor durchführen?
DieFIB-TOF-SIMS-Analyse wird besonders für ihre Fähigkeit geschätzt, detaillierte Informationen über die chemische Zusammensetzung sowohl an der Oberfläche als auch in der Tiefe von Materialien (bis zu 1 nm) mithilfe von Querschnitten zu liefern.
Sie ermöglicht es nicht nur, die Oberfläche zu untersuchen, um vorhandene Elemente und Moleküle zu identifizieren, sondern auch Tiefenprofile zu erstellen, indem Schichten schrittweise abgetragen werden, wodurch Zusammensetzungsänderungen auf verschiedenen Ebenen sichtbar werden. Damit zeichnet sich diese Technik durch ihre Fähigkeit aus, die molekulare Struktur von Verbindungen zu identifizieren.
Diese doppelte Analysemöglichkeit, räumlich und molekular, macht die FIB-TOF-SIMS-Analyse unverzichtbar für die Oberflächenuntersuchung, die Untersuchung von Wechselwirkungen zwischen Materialien, das Verständnis des Vorhandenseins von Korrosion, die Analyse von Beschichtungen und viele weitere Anwendungen.
Unsere Lösungen: die auf Ihre Anforderungen zugeschnittenen TOF-SIMS-Analysetechniken anbieten und schnelle, zuverlässige Ergebnisse liefern
Warum FILAB wählen?
Das FILAB-Labor ist auf FIB-TOF-SIMS-Analysen im Rahmen der Untersuchung der chemischen und molekularen Zusammensetzung von Materialoberflächen spezialisiert. Für alle Industriezweige geeignet, verbinden wir Expertise in der Analyse der äußersten Oberfläche und Spitzentechnologie mit FIB TOF SIMS, um präzise und zuverlässige Ergebnisse im Nanometerbereich zu liefern. Entdecken Sie, wie unsere FIB-TOF-SIMS-Analysen zum Erfolg Ihrer Projekte beitragen und Qualität sowie Innovation sichern können.
Unsere FIB-TOF-SIMS-Analysedienstleistungen
Die Analyse bzw. Expertise mittels FIB ToF SIMS der elementaren und molekularen chemischen Zusammensetzung der äußersten Oberfläche einer Probe kann in verschiedenen Kontexten eingesetzt werden:
Beispiel für Matrizen
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