Le vostre esigenze: caratterizzare la composizione chimica dell’estrema superficie di un campione mediante analisi FIB-TOF-SIMS
Che cos’è il FIB-TOF-SIMS?
Lo Spettrometro di Massa di Ioni Secondari a tempo di volo (ToF-SIMS in inglese, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) è una tecnica di imaging e di analisi che consente di ottenere informazioni elementari e molecolari sulle specie presenti all’estrema superficie di campioni allo stato solido.
In sintesi, fornisce informazioni sulla composizione chimica, sulla distribuzione spaziale degli elementi e sui legami chimici del campione.
Questa tecnica può essere applicata a un’ampia varietà di materiali, tra cui i polimeri, i materiali metallici, le ceramiche, e i materiali compositi, senza richiedere una preparazione complessa del campione.
Il FIB (Focused Ion Beam): utilizza un fascio di ioni focalizzato per rimuovere materiale dalla superficie dei campioni e creare sezioni trasversali nel campione.
Il FIB-TOF-SIMS è una tecnica potente e versatile per l’analisi dei materiali, che offre capacità uniche in termini di risoluzione, sensibilità e analisi tridimensionale. Svolge un ruolo cruciale nel controllo qualità e nella sicurezza dei prodotti, oltre che nella ricerca e nello sviluppo di nuovi materiali.
Perché eseguire un’analisi FIB-TOF-SIMS in laboratorio?
L’analisi FIB TOF SIMS è particolarmente apprezzata per la sua capacità di fornire informazioni dettagliate sulla composizione chimica sia in superficie sia in profondità dei materiali (fino a 1 nm) grazie a sezioni trasversali.
Consente non solo di esaminare la superficie per identificare gli elementi e le molecole presenti, ma anche di realizzare profili di profondità rimuovendo progressivamente gli strati, il che rivela le variazioni composizionali a diversi livelli. Così, questa tecnica si distingue per la sua capacità di identificare la struttura molecolare dei composti.
Questa doppia capacità di analisi, spaziale e molecolare, rende l’analisi FIB-TOF-SIMS irrinunciabile per lo studio delle superfici, lo studio delle interazioni tra materiali, la comprensione della presenza di corrosione, l’analisi dei rivestimenti e molte altre applicazioni.
Le nostre soluzioni: proporre tecniche di analisi TOF-SIMS specifiche per le vostre esigenze e fornire risultati rapidi e affidabili
Perché scegliere FILAB?
Il laboratorio FILAB è specializzato in analisi FIB-TOF-SIMS, nell’ambito dello studio della composizione chimica e molecolare delle superfici dei materiali. Adatti a tutti i settori industriali, uniamo competenza nell’analisi dell’estrema superficie e tecnologia all’avanguardia con il FIB TOF SIMS per fornire risultati precisi e affidabili, su scala nanometrica. Scoprite come le nostre analisi FIB-TOF-SIMS possono contribuire al successo dei vostri progetti, garantendo qualità e innovazione.
I nostri servizi di analisi con FIB TOF SIMS
L’analisi o l’expertise mediante FIB ToF SIMS della composizione chimica elementare e molecolare dell’estrema superficie di un campione può essere applicata in diversi contesti:
Esempio di matrici
film, vetro e fibra di vetro, ceramica, impianti dentali, …
le nostre altre prestazioni tof-sims
