Sus necesidades: caracterizar la composición química de la superficie extrema de una muestra mediante análisis FIB-TOF-SIMS
¿Qué es el FIB-TOF-SIMS?
El Espectrómetro de Masas de Iones Secundarios de tiempo de vuelo (ToF-SIMS en inglés, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) es una técnica de imagen y análisis que permite obtener información elemental y molecular sobre las especies presentes en la superficie extrema de muestras en estado sólido.
En resumen, proporciona información sobre la composición química, la distribución espacial de los elementos y los enlaces químicos de la muestra.
Esta técnica puede aplicarse a una amplia variedad de materiales, incluidos los polímeros, los materiales metálicos, las cerámicas, y los materiales compuestos, sin necesidad de una preparación compleja de las muestras.
El FIB (Focused Ion Beam): utiliza un haz de iones focalizado para eliminar material de la superficie de las muestras y crear cortes transversales en la muestra.
El FIB-TOF-SIMS es una técnica potente y versátil para el análisis de materiales, que ofrece capacidades únicas en términos de resolución, sensibilidad y análisis tridimensional. Desempeña un papel crucial en el aseguramiento de la calidad y la seguridad de los productos, así como en la investigación y el desarrollo de nuevos materiales.
¿Por qué realizar un análisis FIB-TOF-SIMS en laboratorio?
Elanálisis FIB TOF SIMS es especialmente valorado por su capacidad para proporcionar información detallada sobre la composición química tanto en superficie como en profundidad de los materiales (hasta 1 nm) gracias a cortes transversales.
No solo permite examinar la superficie para identificar los elementos y moléculas presentes, sino también realizar perfiles de profundidad eliminando progresivamente capas, lo que revela las variaciones composicionales a distintos niveles. Así, esta técnica se distingue por su capacidad para identificar la estructura molecular de los compuestos.
Esta doble capacidad de análisis, espacial y molecular, convierte el análisis FIB-TOF-SIMS en imprescindible para el estudio de superficies, el estudio de las interacciones entre materiales, la comprensión de la presencia de corrosión, el análisis de recubrimientos y muchas otras aplicaciones.
Nuestras soluciones: ofrecer las técnicas de análisis TOF-SIMS específicas para sus necesidades y proporcionar resultados rápidos y fiables
¿Por qué elegir FILAB?
El laboratorio FILAB está especializado en análisis FIB-TOF-SIMS, en el marco del estudio de la composición química y molecular de las superficies de materiales. Adaptados a todos los sectores industriales, combinamos experiencia en análisis de superficie extrema y tecnología de vanguardia con FIB TOF SIMS para ofrecer resultados precisos y fiables, a escala nanométrica. Descubra cómo nuestros análisis FIB-TOF-SIMS pueden contribuir al éxito de sus proyectos, garantizando la calidad y la innovación.
Nuestros servicios de análisis mediante FIB TOF SIMS
El análisis o la pericia mediante FIB ToF SIMS de la composición química elemental y molecular de la superficie extrema de una muestra puede aplicarse en distintos contextos:
Ejemplo de matrices
película, vidrio y fibra de vidrio, cerámica, implantes dentales, …
nuestros otros servicios tof-sims
