Analyse de surface par tomographie X

Comment contrôler la conformité et les performances de surface de votre matériau par Tomographie X ?

Tout d’abord, l’analyse de surface permet de définir les propriétés et état de surface d’un matériau.  La tomographie X, quant à elle, est un moyen pour répondre à cette définition. En effet, elle a pour vocation de contrôler la conformité et les performances de votre matériau.

Comment la tomographie à rayons X réussit-elle faire cela ? En étudiant…

  • la composition du matériau, 
  • la surface à son cœur,
  • et de suivre son évolution selon des contraintes externes.

Il s’agit là d’une technique d’analyse et de contrôle de matériaux par imagerie utilisant l’interaction rayonnement/matière. Cela permet ainsi de construire des images en 3D de la surface étudiée. 

Par ailleurs, c’est une technique très appréciée dans certains secteurs industriels puisque il n’est pas nécessaire de détruire le matériau afin de l’analyser. 

Ainsi, pour contrôler la  conformité et les performance de votre matériau, il convient de réaliser une analyse de surface par tomographie X. 

FILAB vous accompagne dans vos besoins d'analyse de surface par tomographie X

Disposant d’une expérience significative dans l’analyse de surface et la caractérisation de matériaux, le laboratoire FILAB vous accompagne sur la compréhension du comportement de vos produits et dans la recherche de solutions adaptées.

Le Laboratoire FILAB utilise entre autres les analyses par tomographie à rayon X, mais également des outils de pointes tels que le MEB FEG-EDX, l’XPS ou encore l’ AFM. 

Les + FILAB

  • Une équipe hautement qualifiée

  • Une réactivité de réponse et de traitement des demandes

  • Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025

  • (Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)

  • Un parc analytique complet de 2100m²

  • Un accompagnement sur-mesure

POUR ALLER + LOIN

  • Analyse par BET et Mesure du volume de surface spécifique (VSSA)

     

  • Analyse d'extrême surface par TOF-SIMS et XPS

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