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Laboratoire d’analyses TOF - SIMS
Analyse d’extrême surface : de quoi parle-t-on ?
La Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol (ToF-SIMS en anglais pour Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’imagerie et d’analyse permettant d’obtenir des informations élémentaires et moléculaires sur les espèces présentes en extrême surface d’échantillons à l’état solide. Elle fournit des informations sur la composition chimique, la distribution spatiale des éléments et les liaisons chimiques de l’échantillon.
Son principe consiste à bombarder via une source pulsée d’ions primaires (Ga+, Bin+, Au+, C60+, …) la surface à analyser afin de produire des ions secondaires depuis les premières couches monoatomiques de l’échantillon. Ces derniers ions, qu’ils soient positifs ou négatifs, sont ensuite focalisés et accélérés dans un analyseur à temps de vol au sein duquel leurs temps de parcours est fonction de leurs masses. En couplant à un dispositif de balayage du faisceau d’ions primaires, on obtient ainsi une cartographie des différents éléments chimiques et espèces moléculaires en surface de l’échantillon.
Le ToF-SIMS constitue donc une technique d’analyse de surface à très haute sensibilité permettant d’obtenir des limites de détection d’éléments ou de molécules de l’ordre du ppm.
Vos besoins : caractériser la composition chimique d’extrême surface d’un échantillon par ToF-SIMS
L’analyse ou l’expertise par ToF-SIMS de la composition chimique élémentaire et moléculaire d’extrême surface d’un échantillon peut être mise en œuvre dans différents contextes :
- Expertise par ToF-SIMS dans le cadre d’un projet de R&D associé par exemple à l’optimisation d’un assemblage par collage (caractérisation des fonctions chimiques de surface)
- Identification d’un dépôt ou d’une pollution observée en surface d’un matériau (diagnostic élémentaire et moléculaire)
- Vérification de la fonctionnalisation de surface d’un produit lui permettant d’améliorer ses performances en termes d’adhérence, d’accroche mécanique, …
Ces analyses d’extrême surface vous permettent donc de vous assurer de la conformité de vos produits et de répondre à vos problématiques industrielles de défaillances et d’identification de pollutions.
Nos solutions : proposer les techniques d’analyses TOF-SIMS spécifiques à vos demandes et fournir des résultats rapides et fiables
FILAB est un laboratoire interdisciplinaire proposant des services d’analyses et d’expertises, dont certains sont sous accréditation COFRAC ISO 17025 :
– Caractérisation d’extrêmes surfaces
– Analyses par spectrométrie de masse d’ions secondaires SIMS
– Identification élémentaire ou moléculaire par ToF-SIMS
– Diagnostic de la nature de dépôt et de contamination
– Expertise de défaillances (vieillissement d’un produit, décollement mécanique, problématique d’adhérence, …)
– Mise au point et optimisation de la fonctionnalité de surface d’un matériau dans un cadre de R&D
Pour répondre à ces besoins d’analyses par TOF-SIMS, le laboratoire FILAB dispose d’une expertise multisectorielle ainsi que d’un parc analytique à la pointe de la technologie, permettant de répondre avec une forte réactivité et fiabilité aux différentes demandes de clients industriels.
Les + FILAB
Une équipe hautement qualifiée
Une réactivité de réponse et de traitement des demandes
Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025
(Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)
Un parc analytique complet de 2100m²
Un accompagnement sur-mesure
Thomas ROUSSEAU
Directeur Scientifique et Technique
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