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Accueil » Nos techniques d’analyses » Laboratoire d’expertise et d’analyse par ToF-SIMS pour l’industrie Suisse
Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry signifie Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol, ce qui correspond à une technique analytique d’extrême surface permettant d’obtenir des informations sur l’espèce moléculaire et élémentaire présente en surface d’échantillons à l’état solide. Cette technique fournit des informations sur la composition chimique, la distribution spatiale des éléments et les liaisons chimiques de l’échantillon.
L’analyse par ToF-SIMS permet de répondre à plusieurs besoins tels que :
Laboratoire indépendant situé à Dijon, FILAB vous propose un panel de prestations multisectorielles pour vos analyses par ToF-SIMS, dont certaines sous accréditation COFRAC ISO 17025 :
Cette approche peut être complétée par d’autres techniques complémentaires :
Une équipe hautement qualifiée
Une réactivité de réponse et de traitement des demandes
Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025
(Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)
Un parc analytique complet de 2100m²
Un accompagnement sur-mesure
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