Laboratoire d’expertise et d’analyse par ToF-SIMS pour l’industrie Suisse

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry signifie Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol, ce qui correspond à une technique analytique d’extrême surface permettant d’obtenir des informations sur l’espèce moléculaire et élémentaire présente en surface d’échantillons à l’état solide. Cette technique fournit des informations sur la composition chimique, la distribution spatiale des éléments et les liaisons chimiques de l’échantillon.

L’analyse par ToF-SIMS permet de répondre à plusieurs besoins tels que :

• L’identification d’un dépôt ou d’une pollution en surface de matériau (diagnostic élémentaire et moléculaire)
• La vérification de la fonctionnalisation de surface d’un produit lui permettant d’améliorer ses performances d’adhérence, d’accroche mécanique…
• La vérification de la conformité d’un produit
• Le contrôle d’un produit suite à une défaillance ou à l’observation de pollution