La vostra esigenza: desiderate controllare la non contaminazione superficiale del vostro materiale
Che cos’è una contaminazione?
La non contaminazione superficiale si realizza in un contesto di controllo della qualità del vostro prodotto o delle materie prime utilizzate. Innanzitutto, la contaminazione è caratterizzata dalla presenza non controllata di un elemento dannoso per la conformità o le prestazioni di un prodotto. Essa può verificarsi lungo tutto il processo di produzione. Il concetto di contaminazione è strettamente legato a quello di dimensione. Infatti, queste sono spesso minime e non sono generalmente rilevabili a occhio nudo.
Per verificare la non contaminazione superficiale del vostro materiale, potete effettuare diversi tipi di analisi come:
- L’analisi di conformità : in questo caso, le analisi hanno l’obiettivo di controllare e confermare la conformità del prodotto rispetto alla normativa (analisi dei metalli pesanti, analisi dei nanomateriali, dosaggi chimici…)
- L’analisi di guasto: quando una contaminazione appare durante il processo di produzione, in qualsiasi momento, ostacolando così il rilascio dei lotti (contaminazione da polveri, contaminazione incrociata, depositi, cambiamento di colore…)
- L’analisi di un processo di pulizia: in questo caso, il controllo della non contaminazione superficiale permette di validare o meno l’efficacia di un processo di pulizia.
Le nostre soluzioni per controllare la non contaminazione superficiale in laboratorio
Da oltre 30 anni, il laboratorio FILAB dispone dell’esperienza e del parco strumentale analitico specifico per rispondere alle esigenze di analisi e di controllo della non contaminazione superficiale sui vostri materiali:
- Analisi chimica di particelle e contaminazioni particellari mediante SEM-EDX
- Identificazione e caratterizzazione dei contaminanti mediante SEM-EDX
- Controllo della contaminazione superficiale mediante ICP
- Analisi di salviette o tamponi per controllare la qualità di un ambiente
- L’analisi SIMS con la spettrometria di massa TOF-SIMS completa queste tecniche offrendo un’analisi ultra-sensibile e localizzata delle contaminazioni molecolari ed elementari su scala nanometrica, ideale per rilevare residui invisibili con SEM-EDX o ICP.
