Su necesidad: desea controlar la no contaminación superficial de su material
¿Qué es una contaminación?
La no contaminación superficial se lleva a cabo en un contexto de control de la calidad de su producto o de las materias primas utilizadas. En primer lugar, la contaminación se caracteriza por la presencia no controlada de un elemento perjudicial para la conformidad o el rendimiento de un producto. Esta puede producirse a lo largo de todo el proceso de producción. La noción de contaminación está estrechamente ligada a la noción de tamaño. En efecto, suelen ser ínfimas y a menudo no son detectables a simple vista.
Con el fin de verificar la no contaminación superficial de su material, puede realizar diferentes tipos de análisis como:
- El análisis de conformidad : en este caso, los análisis tienen como objetivo controlar y confirmar la conformidad del producto con respecto a la normativa (análisis de metales pesados, análisis de nanomateriales, dosificaciones químicas…)
- El análisis de fallo: cuando aparece una contaminación durante el proceso de producción, en cualquier momento, dificultando así la liberación de los lotes (contaminación por polvo, contaminación cruzada, depósitos, cambio de color…)
- El análisis de un proceso de limpieza: aquí, el control de no contaminación superficial permite validar o no la eficacia de un proceso de limpieza.
Nuestras soluciones para controlar la no contaminación superficial en laboratorio
Desde hace más de 30 años, el laboratorio FILAB cuenta con la experiencia y el parque analítico específico para responder a las necesidades de análisis y de control de no contaminaciones superficiales en sus materiales:
- Análisis químico de partículas y contaminaciones particuladas por MEB-EDX
- Identificación y caracterización de contaminantes por MEB-EDX
- Control de contaminación superficial por ICP
- Análisis de toallitas o hisopos para controlar la calidad de un entorno
- Elanálisis SIMS con la espectrometría de masas TOF-SIMS completa estas técnicas al ofrecer un análisis ultrasensible y localizado de las contaminaciones moleculares y elementales a escala nanométrica, ideal para detectar residuos invisibles por MEB-EDX o ICP.
