Si l’analyse chimique élémentaire permet d’identifier et de quantifier les éléments constitutifs d’un matériau, la Diffraction des Rayons X (DRX) permet quant à elle d’accéder à de nombreuses informations contenues dans l’arrangement même des éléments au sein d’un matériau. Elle permet notamment d’identifier le ou les composés cristallisés présents dans un matériau ainsi que leurs formes cristallographiques.
Lorsque plusieurs composés cristallisés sont identifiés au sein d’un même matériau, la technique de Diffraction des Rayons X peut également être mise en œuvre de façon quantitative afin de déterminer les teneurs respectives des différents composés observés. Pour cela, la technique d’affinement selon la méthode de Rietveld est couramment utilisée. Elle consiste à simuler un diffractogramme à partir d’une base de données puis à l’ajuster progressivement au plus près du diffractogramme de l’échantillon : la composition chimique de la simulation la plus proche du diffractogramme de l’échantillon est alors considérée comme étant la composition chimique de cet échantillon. On notera toutefois que cette méthode itérative est parfois complexe, longue et difficile à mettre en œuvre suivant la nature de l’échantillon et des composés cristallisés le constituant.
Cette méthodologie peut être adaptée pour le contrôle de la pureté de matériaux céramiques, la quantification des phases cristallines étrangères dans les substituts osseux, le contrôle de la formulation de matériaux cimentaires, la caractérisation de laitiers de fonderie, l’identification des impuretés dans les matériaux réfractaires ou encore l’identification des formes allotropiques des pigments minéraux.
Présentant une expérience significative dans le développement de méthodes spécifiques par DRX, FILAB vous accompagne dans le cadre de vos besoins de contrôle, d’expertise ou de développement de process pour vos matériaux cristallisés et minéraux.
