La surface d’un matériau constitue une zone exposée à de nombreuses interactions avec l’environnement dont la qualité conditionne les procédures industrielles (collage, application de revêtement, …) et les différentes performances d’utilisation (résistance à la corrosion, …).
Pour ces procédés et applications, il est donc stratégique de caractériser la propreté d’une surface de matériau mais également d’identifier la nature chimique d’une éventuelle pollution ou d’un éventuel dépôt pouvant être à l’origine d’une perte de performances ou d’initiation de défaillances (corrosion, décollement, rupture, …).
La nature potentielle de ces dépôts ou pollutions pouvant être très variable, la première étape de la démarche de caractérisation du dépôt consiste à réaliser un diagnostic afin d’apprécier la nature chimique générale de ces contaminations (dépôt) qui peut être organique, minérale et/ou métallique. Cette première étude est réalisée par Microscopie Electronique à Balayage couplée à une microsonde EDX permettant de déterminer d’un point de vue semi-quantitatif la composition chimique élémentaire de la surface du matériau mais aussi d’évaluer l’homogénéité ou l’hétérogénéité chimique de ces zones. Grâce au caractère non destructif de cet outil préliminaire de caractérisation, la pollution ou le dépôt peut être ensuite orienté vers d’autres moyens d’investigations plus spécifiques aux natures minérales, organiques et métalliques permettant une caractérisation plus approfondie du dépôt.
Dans le cadre des natures organiques, les moyens de caractérisation complémentaires du dépôt privilégiés seront la Chromatographie Gazeuse couplée à un détecteur de type Spectromètre de Masse (GC-MS), la Spectroscopie Infrarouge (IRTF ou µ-IRTF) ou encore la Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires (ToF-SIMS).
Les techniques d’analyse cristallographique comme la Diffraction des Rayons X ou d’analyse de surface comme la Spectroscopie de Photoélectrons X seront quant à elles suggérées dans le cadre des natures minérales du dépôt.
Enfin, la spectrométrie d’émission optique à plasma (ICP-AES ou ICP-MS) sera sollicitée en présence de dépôt ou pollution métallique.
Présentant une expérience significative dans la mise en œuvre de l’ensemble de ces outils de caractérisation, FILAB vous accompagne dans le cadre de vos besoins d’identification de dépôt et de qualification de propreté.
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