¿Desea realizar un análisis según la ASTM F1710?
Experiencia en análisis de gases de alta pureza para la industria de los semiconductores del laboratorio FILAB
La industria de la microelectrónica y de los semiconductores exige niveles extremos de pureza para los gases utilizados en los procesos de fabricación. La norma ASTM F1710 define protocolos rigurosos para la detección y cuantificación de impurezas en estado de traza. El laboratorio FILAB le acompaña en la validación de la conformidad de sus gases de alta pureza.
¿Qué es la norma ASTM F1710?
La norma ASTM F1710 es un método de referencia para el análisis de impurezas gaseosas (como el hidrógeno, el nitrógeno, el oxígeno, el metano, el monóxido y el dióxido de carbono) en gases electrónicos de alta pureza.
Por lo general, se basa en el uso de técnicas analíticas de vanguardia como la cromatografía de gases acoplada a diversos detectores.
Dominio tecnológico: análisis por GC-MS
Para responder a los requisitos de la norma ASTM F1710, nuestro laboratorio utiliza la Cromatografía de Gases acoplada a la Espectrometría de Masas (GC-MS). Esta técnica permite separar las moléculas de gas y luego identificarlas con precisión según su masa atómica.
El laboratorio FILAB le acompaña en el análisis según la ASTM F1710
Por qué realizar sus análisis ASTM F1710 con FILAB
Recurrir a un laboratorio especializado para la aplicación de la norma ASTM F1710 le permite:
Garantizar el rendimiento de sus procesos: evitar defectos en las piezas relacionados con la contaminación gaseosa.
Asegurar la conformidad del proveedor: verificar que los gases suministrados cumplen las especificaciones de pureza ultraalta (UHP).
Beneficiarse de un límite de detección óptimo: alcanzar umbrales de detección del orden de ppb o ppt.
Los sectores de aplicación
Aunque está destinada principalmente al sector de los semiconductores, el análisis según la ASTM F1710 es esencial para:
La fabricación de componentes electrónicos y microelectrónicos.
La industria fotovoltaica.
La producción de fibras ópticas.
Los laboratorios de I+D que trabajan en nanomateriales.
¿Por qué elegir el laboratorio FILAB para sus análisis?
Recurrir a FILAB es convertir sus necesidades analíticas en palancas de decisión estratégica:
Experiencia reconocida: 45 años de experiencia en química fina y metalurgia de vanguardia.
Fiabilidad garantizada: Acreditación ISO 17025 por COFRAC (según alcance disponible en www.cofrac.fr).
Reconocimiento industrial: Socio de confianza de los principales clientes industriales (Safran, Dassault Aviation, Framatome, EDF…).
Perfiles expertos: Un equipo de 140 colaboradores compuesto mayoritariamente por doctores e ingenieros.
Compromiso RSE: Medalla EcoVadis, que garantiza prácticas responsables.
Nuestras preguntas frecuentes
Para obtener un presupuesto, puede contactar con nuestros equipos a través de nuestro formulario de contacto, por teléfono o por correo electrónico.
Solo tiene que enviarnos su necesidad (tipo de material, análisis deseado, norma eventual, urgencia, cantidad de muestras…). A continuación, le enviaremos una propuesta técnica y económica personalizada en 24-48H.
Los plazos varían según la naturaleza del análisis y la complejidad del proyecto de experiencia.
No obstante, FILAB se compromete a ofrecer plazos rápidos y adaptados a sus limitaciones y urgencias industriales.
La norma se aplica principalmente a los gases de alta pureza (UHP) utilizados en electrónica, como el nitrógeno (N2), el argón (Ar), el helio (He), el hidrógeno (H2) y el oxígeno (O2). Permite verificar que estos gases no contienen contaminantes críticos.
Gracias al uso de tecnologías como APIMS o la cromatografía de vanguardia, los límites de detección suelen alcanzar el nivel de ppb (parte por mil millones) y pueden descender hasta ppt (parte por billón) para ciertas impurezas específicas en condiciones estrictas.
La ASTM F1710 está calibrada específicamente para las necesidades de la industria de los semiconductores. A diferencia de un análisis estándar, impone protocolos de muestreo extremadamente rigurosos para evitar que el aire ambiente o las paredes de los recipientes contaminen la muestra durante la prueba.
Incluso una traza ínfima de monóxido de carbono ($CO$) o de humedad ($H_2O$) puede alterar las propiedades eléctricas de un componente o provocar defectos cristalinos en las obleas de silicio, lo que conlleva importantes pérdidas financieras.
