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Analyse et Caractérisation de poudres en laboratoire
ICP AES
Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale.
Système simultané, système d’injection Teflon pour solution HF, système d’injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique.
ICP - MS
Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell).
Quadripôle, limite de détection jusqu’au ppt, système d’injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique.
DRX
DRX MINIFLEX II
Source : Cuivre
Plage angulaire : 0 à 120 °
Méthode de quantification par affinement selon la méthode de Rietveld
Base de données ICDD / JCPD
MEB FEG EDX
Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant – Détecteur d’électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) – Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore).
Sorptomètre (BET)
Micromeritics GEMINI VII
Mesure de la surface spécifique par adsorption d’azote
Surface spécifique supérieure à 0,01 m²/g
6 postes de dégazage
Cellule de 6,5 et 8,9 cm3
Résolution P/P0 inférieure à 10-4
Thomas ROUSSEAU
Directeur Scientifique et Technique
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