Desiderate misurare lo spessore del trattamento superficiale tramite MEB?
Per iniziare, la microscopia elettronica a scansione è una tecnica di microscopia elettronica. Questo metodo consente l’analisi di un materiale mediante un sottile fascio di elettroni che ne scansiona la superficie senza distruggerlo. Al termine di questa analisi, è possibile ottenere diverse informazioni, in particolare lo spessore dei diversi strati.
La misurazione dello spessore dei diversi strati di un materiale tramite MEB consente, innanzitutto, di verificare e adattare i vostri processi di produzione. Infatti, il MEB, grazie alla qualità dell’immagine ottenuta al termine dell’analisi, rende possibile l’osservazione minuziosa dei diversi strati.
Inoltre, la microscopia elettronica consente anche di adattare l’implementazione di processi di trattamento superficiale o di pulizia.
FILAB vi affianca nella misurazione dello spessore tramite MEB su qualsiasi tipo di materiale
Attraverso i nostri tre livelli di prestazioni: analisi, consulenza specialistica e supporto R&D, FILAB affianca le aziende di tutti i settori nell’analisi delle contaminazioni dei materiali tramite MEB. Per farlo, FILAB mette a disposizione dei propri clienti il know-how e l’esperienza del suo team, oltre a un parco analitico di 5200 m² con strumentazione all’avanguardia.
Inoltre, il laboratorio FILAB vanta una significativa esperienza nella misurazione dello spessore degli strati tramite MEB, nonché nello sviluppo di metodi specifici.
Esempi di prestazioni
Analisi della composizione chimica della superficie tramite MEB-FEG-EDX, XPS o anche TOF-SIMS
Studio morfologico della superficie di un materiale (porosità, rugosità,…) tramite MEB-FEG-EDX
Identificazione di contaminazioni superficiali (analisi di particelle, depositi,…) tramite MEB-FEG-EDX
Studio dei guasti e dei difetti superficiali tramite MEB-FEG-EDX (fessura, rottura, migrazione, corrosione…)
