Möchten Sie die Dicke einer Oberflächenbehandlung mittels REM messen?
Zunächst ist die Rasterelektronenmikroskopie eine Form der Elektronenmikroskopie. Diese Methode ermöglicht die Analyse eines Materials durch einen feinen Elektronenstrahl, der die Oberfläche zerstörungsfrei abtastet. So können am Ende dieser Analyse mehrere Informationen gewonnen werden, insbesondere die Dicke der verschiedenen Schichten.
Die Messung der Dicke der verschiedenen Schichten eines Materials mittels REM ermöglicht es Ihnen zunächst, Ihre Fertigungsprozesse zu überprüfen und anzupassen. Denn das REM macht aufgrund der nach der Analyse erzielten Bildqualität eine sorgfältige Beobachtung der verschiedenen Schichten möglich.
Darüber hinaus ermöglicht die Elektronenmikroskopie auch die Anpassung der Umsetzung von Oberflächenbehandlungs- oder Reinigungsverfahren.
FILAB unterstützt Sie bei der Schichtdickenmessung mittels REM auf allen Materialarten
Über unsere drei Leistungsstufen: Analyse, Expertise und F&E-Begleitung unterstützt FILAB Unternehmen aller Branchen bei der Analyse von Materialverunreinigungen mittels REM. Dafür stellt FILAB seinen Kunden das Know-how und die Erfahrung seines Teams zur Verfügung sowie einen 5200 m² großen Analytikbereich mit modernster Ausstattung.
Darüber hinaus verfügt das Labor FILAB über umfangreiche Erfahrung in der Messung von Schichtdicken mittels REM sowie in der Entwicklung spezifischer Methoden.
Beispiel für Leistungen
Analyse der chemischen Zusammensetzung der Oberfläche mittels MEB-FEG-EDX, XPS oder auch TOF-SIMS
Morphologische Untersuchung der Oberfläche eines Materials (Porosität, Rauheit, …) mittels MEB-FEG-EDX
Identifizierung von Oberflächenverunreinigungen (Analyse von Partikeln, Ablagerungen, …) mittels REM-FEG-EDX
Untersuchung von Ausfällen und Oberflächenfehlern mittels REM-FEG-EDX (Riss, Bruch, Migration, Korrosion…)
