Analyselabor für Mikroelektronik
Seit rund fünfzig Jahren nimmt die Mikroelektronikindustrie einen wichtigen Platz in Wissenschaft und Forschung ein, aber auch in Alltagsgegenständen.
In der Luft- und Raumfahrt, im Verteidigungssektor und seit jüngerer Zeit auch im medizinischen Bereich ist die Miniaturisierung von Komponenten ein Motor für Innovation und Effizienz. FILAB, Experte für mikroelektronische Analysen.
Sie möchten eine mikroelektronische Analyse Ihrer Komponenten durchführen lassen
Als Hersteller elektronischer Komponenten für Hightech-Anwendungen oder als Zulieferer der Mikrotechnologie stehen Sie vor großen Herausforderungen in Bezug auf Sicherheit und Qualität der entwickelten Produkte. Diese Anforderungen führen dazu, dass Sie:
- Ihre Rohstoffe besser kontrollieren
- Reinigungsprozesse beherrschen
- Die Konformität Ihrer Oberflächenbehandlungen qualifizieren
- Produktionsanomalien charakterisieren (Fehler, Verunreinigung, Ablösung, Korrosion …)
Dafür suchen Sie ein Dienstleistungslabor, das auf die Analyse und Charakterisierung von Werkstoffen spezialisiert ist.
Das FILAB-Labor unterstützt Sie bei Analysen für den Mikroelektroniksektor
FILAB bietet hochmoderne mikroelektronische Analysetechniken, die präziser und empfindlicher für Mikroelektronik sind, um deren Konformität zu bewerten.
Das FILAB-Labor unterstützt Sie bei Ihren Anforderungen an die Charakterisierung elektronischer Produkte, Fehleranalyse und Prozessentwicklung durch folgende Leistungen:
ANALYSE & EXPERTISE
Ionenverunreinigung qualifizieren und messen
Analyse von Oberflächenbehandlungen und Oberflächenbehandlungsbad
Charakterisierung von Löt- und Schweißverbindungen
Analyse von Ausfällen (Korrosion, Bruch, Haftung, Schweißung)
Analyse von Zinnbasislegierungen (SAC, SnPb...)
Unterstützung für F&E
F&E-Begleitung (Literaturrecherche, Projektsteuerung, Auswahl von Rohstoffen und Werkstoffen…)
Beratung
Ein analytischer Gerätepark, der der mikroelektronischen Analyse gewidmet ist:
UNSERE MITTEL
Metallurgische Analysen: ICP, MEB-FEG EDX, SEO
Pulveranalysen: XRD, REM-FEG EDX, BET
Oberflächenanalysen: REM-FEG EDX, XPS, TOF-SIMS
