L’AFM est un microscope à sonde locale, haute résolution permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon mais aussi la tribologie, le comportement mécanique, électrique ou chimique.
Par ailleurs, cette méthode permet d’analyser point par point la surface de l’échantillon grâce au balayage d’une sonde constituée d’une pointe nanométrique. Ce microscope offre ainsi la possibilité d’étudier des objets à très petite échelle.