Analyse des poudres et Caractérisation de nanomatériaux et nanoparticules en laboratoire

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ICP AES

Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale.

Système simultané, système d'injection Teflon pour solution HF, système d'injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique.

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ICP - MS

Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell).

Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique.

 

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DRX

DRX MINIFLEX II

Source : Cuivre

Plage angulaire : 0 à 120 °

Méthode de quantification par affinement selon la méthode de Rietveld

Base de données ICDD / JCPD

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MEB EDX

Microscope Electronique à Balayage Environnemental (ESEM) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)

Mode High-Vac et Low-Vac pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore).

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Sorptomètre (BET)

Micromeritics GEMINI VII

Mesure de la surface spécifique par adsorption d’azote

Surface spécifique supérieure à 0,01 m²/g

6 postes de dégazage

Cellule de 6,5 et 8,9 cm3

Résolution P/P0 inférieure à 10-4

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