Möchten Sie die Art und Herkunft einer Spur auf Ihren Materialien kennen?
Was ist REM?
Die Abkürzung REM steht für Rasterelektronenmikroskopie und ist eine Technik der Elektronenmikroskopie.
Das REM ermöglicht die Analyse eines Materials durch einen feinen Elektronenstrahl, der die Oberfläche zerstörungsfrei abtastet, selbst bei den empfindlichsten Materialien gegenüber Elektronen.
Dies ist dank der Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Materie möglich. Tatsächlich ist dies das Phänomen, das die Erzeugung hochauflösender Bilder ermöglicht und so die Oberflächenstruktur sowie die Morphologie eines Materials bestimmt.
Darüber hinaus liefert das REM auch qualitative und quantitative Informationen über mehrere Materialarten, insbesondere über
- Polymere
- Gläser
- Metalle…
Warum Ihre Oberflächenspuren mittels Rasterelektronenmikroskopie analysieren?
Es gibt mehrere Gründe, Analysen an Ihren Produkten und Materialien durchzuführen, insbesondere um die Herkunft und die chemische Natur von Spuren auf Ihren Materialien zu bestimmen.
Diese können nämlich unterschiedliche Ursachen haben, insbesondere Stöße, Beschädigungen der Beschichtung…
Darüber hinaus ermöglicht die Spurenanalyse mittels REM zu überprüfen, ob sich die Spuren an der Oberfläche oder tiefer befinden und ob sie die Unterschichten Ihrer Materialien erreichen. Außerdem können einige Spuren auf mehreren Ihrer Chargen auftreten; die Analyse mittels REM ermöglicht es daher, die Herkunft der Spur, ihre chemische Natur sowie ihre Tiefe zu bestimmen.
Daher ist die Unterstützung durch ein auf Spurenanalyse spezialisiertes Labor ein erheblicher Vorteil bei der Verbesserung Ihrer Materialien.
FILAB unterstützt Sie bei der Analyse von Spuren in Ihren Produkten und Materialien
Mit unseren drei Leistungsstufen: Analyse, Expertise und R&D-Begleitung, unterstützt FILAB Unternehmen aller Branchen und Größen.
FILAB begleitet Sie bei der Spurenanalyse mittels REM und übernimmt die verschiedenen Durchführungsschritte.
Dank hochqualifizierter interner Kompetenzen und eines vielfältigen Analytikparks bietet FILAB Ihnen Lösungen, die auf Ihre Fragestellungen zugeschnitten sind.
aller + loin
Charakterisierung von Partikeln und Kontaminationen im Labor
Messung der Beschichtungsdicke mittels REM
Charakterisierung und Identifizierung von Verunreinigungen (Partikeleinschlüsse in einem Material)
Analyse von Oberflächenbehandlungen (chemische Bäder, Galvanisierung, metallische Beschichtungen...)
Analyse und Untersuchung der Materialalterung mittels REM
