Laboratoire d’analyses TOF – SIMS

 

Analyse d’extrême surface : de quoi parle-t-on ?

La spectrométrie de masse à ionisation secondaire (SIMS en anglais pour Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’analyse de surface dont le principe est de bombarder la surface d’un échantillon (un matériau) à analyser avec des ions.

La détection par spectromètrie de masse permet de mesurer la composition chimique de la surface du matériau analysé (composition chimique moléculaire, élémentaire ou isotopique).

Le TOF-SIMS est la technique d'analyse de surface la plus sensible qui permet d'obtenir des limites de détection d'éléments traces entre 1012 et 1016 atomes/cm3.

 

Vos besoins : déterminer la composition chimique de surface d’un échantillon par TOF SIMS

L'analyse par TOF-SIMS peut répondre à vos besoins d’analyses et d'expertise d’extrême surface, dans différents contextes :

- Analyses par TOF-SIMS dans un projet de R&D

- Etudes de défauts de surface par TOF-SIMS

- Analyse de la conformité d’une surface d’un matériau par TOF-SIMS

Ces analyses d’extrême surface vous permettent de vous assurer de la conformité de vos produits

 

Nos solutions : proposer les techniques d’analyses TOF-SIMS spécifiques à vos demandes et fournir des résultats rapides et fiables

FILAB est un laboratoire interdisciplinaire proposant des services d’analyses et d'expertise, dont certains sont sous accréditation COFRAC ISO 17025 :

- Analyses de surface

- Analyses par spectrométrie de masse SIMS

- Analyses par TOF-SIMS

- Analyses chimiques

- Etudes de défaillances

Pour répondre à ces besoins d’analyses par TOF-SIMS, le laboratoire FILAB dispose d’une expertise multisectorielle ainsi que d’un parc analytique à la pointe de la technologie, permettant de répondre avec une forte réactivité et fiabilité aux différentes demandes de clients industriels.

 

Pour plus d’informations sur nos prestations de services d’analyses en laboratoire, contactez-nous !

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