Laboratoire d’analyses TOF – SIMS

 

Analyse d’extrême surface : de quoi parle-t-on ?

La Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol (ToF-SIMS en anglais pour Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’analyse permettant d’obtenir des informations élémentaires et moléculaires sur les espèces présentes en extrême surface d’échantillons à l’état solide.

Son principe consiste à bombarder via une source pulsée d’ions primaires (Ga+, Bin+, Au+, C60+, …) la surface à analyser afin de produire des ions secondaires depuis les premières couches monoatomiques de l’échantillon. Ces derniers ions, qu’ils soient positifs ou négatifs, sont ensuite focalisés et accélérés dans un analyseur à temps de vol au sein duquel leurs temps de parcours est fonction de leurs masses. En couplant à un dispositif de balayage du faisceau d’ions primaires, on obtient ainsi une cartographie des différents éléments chimiques et espèces moléculaires en surface de l’échantillon.

Le ToF-SIMS constitue donc une technique d'analyse de surface à très haute sensibilité permettant d'obtenir des limites de détection d'éléments ou de molécules de l’ordre du ppm.

 

Vos besoins : caractériser la composition chimique d’extrême surface d’un échantillon par ToF-SIMS

L’analyse ou l’expertise par ToF-SIMS de la composition chimique élémentaire et moléculaire d’extrême surface d’un échantillon peut être mise en œuvre dans différents contextes :

- Expertise par ToF-SIMS dans le cadre d’un projet de R&D associé par exemple à l’optimisation d’un assemblage par collage (caractérisation des fonctions chimiques de surface)

- Identification d’un dépôt ou d’une pollution observée en surface d’un matériau (diagnostic élémentaire et moléculaire)

- Vérification de la fonctionnalisation de surface d’un produit lui permettant d’améliorer ses performances en termes d’adhérence, d’accroche mécanique, …

Ces analyses d’extrême surface vous permettent donc de vous assurer de la conformité de vos produits et de répondre à vos problématiques industrielles de défaillances et d’identification de pollutions.

 

Nos solutions : proposer les techniques d’analyses TOF-SIMS spécifiques à vos demandes et fournir des résultats rapides et fiables

FILAB est un laboratoire interdisciplinaire proposant des services d’analyses et d'expertises, dont certains sont sous accréditation COFRAC ISO 17025 :

- Caractérisation d’extrêmes surfaces

- Analyses par spectrométrie de masse d’ions secondaires SIMS

- Identification élémentaire ou moléculaire par ToF-SIMS

- Diagnostic de la nature de dépôt et de contamination

- Expertise de défaillances (vieillissement d’un produit, décollement mécanique, problématique d’adhérence, …)

- Mise au point et optimisation de la fonctionnalité de surface d’un matériau dans un cadre de R&D

Pour répondre à ces besoins d’analyses par TOF-SIMS, le laboratoire FILAB dispose d’une expertise multisectorielle ainsi que d’un parc analytique à la pointe de la technologie, permettant de répondre avec une forte réactivité et fiabilité aux différentes demandes de clients industriels.

 

Pour plus d’informations sur nos prestations de services d’analyses en laboratoire, contactez-nous !

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