Le Microscope à Force Atomique (AFM pour Atomic Force Microscope) est un microscope à sonde locale, haute résolution permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon mais aussi la tribologie, le comportement mécanique, électrique ou chimique.
Par ailleurs, cette méthode permet d’analyser point par point la surface de l’échantillon grâce au balayage d’une sonde constituée d’une pointe nanométrique. Ce microscope offre ainsi la possibilité d’étudier des objets à très petite échelle.
En tant qu’Organisme de formation agréé, FILAB accompagne vos équipes dans l’apprentissage de nouvelles méthodes d’analyse et de caractérisation, quel que soit votre secteur d’activité.
Pourquoi former vos équipes à la technique d'analyse par AFM ?
La technique d’analyse par AFM offre une résolution élevée jusqu’au nanomètre permettant d’observer des détails fins sur les surfaces analysées. Contrairement aux microscopes optiques l’analyse par AFM n’est pas limitée par la diffraction de la lumière. de plus, l’AFM mesure diverses interactions de force (Van der Waals, électriques …), fonctionne avec des échantillons non conducteurs, et préserve l’intégrité de l’échantillon grâce à son mode de taraudage. Enfin, elle est adaptable grâce à des modifications de logiciel et de sonde pour différentes analyses.
Dans quel contexte l’utilisation de l’AFM est nécessaire ?
Comme expliqué, l’AFM est en mesure de visualiser la topographie, la tribologie, le comportement mécanique, électrique ou chimique de la surface d’un échantillon. En effet, l’analyse de surface est une discipline scientifique qui se concentre sur l’étude de la composition, de la structure et des propriétés de la surface externe des matériaux.
Contrairement à l’analyse de matériaux en volume, qui s’intéresse à l’ensemble du matériau, l’analyse de surface se focalise sur la couche externe, souvent jusqu’à quelques atomes ou molécules d’épaisseur. Cette approche est cruciale car les réactions chimiques, les propriétés physiques, et les interactions avec l’environnement se produisent principalement à la surface des matériaux.
FILAB assure la formation AFM (microscopie à force atomique ) de vos équipes
A FILAB, nous développons et proposons à nos clients uniquement des formations sur-mesure, en adéquation avec vos problématiques industrielles ou enjeux analytiques.
Nos prestations incluent à la formation de l’AFM :
La préparation des échantillons
La réalisation des analyses
L’interprétations des résultats
… et s’adaptent à tout profil (débutant ou expert). Elles peuvent d’ailleurs être réalisées sur site ou à distance.
Pourquoi choisir FILAB pour une formation AFM ?
Plusieurs raisons sont à l’origine du nombre grandissant de demandes de formation AFM auprès de FILAB :
Des personnes hautement qualifiées : nos formateurs sont des personnes du laboratoire, docteurs ou ingénieurs spécialisés
Une structure à taille humaine, qui nous permet une meilleure réactivité et une plus grande flexibilité
Un profil unique avec une double compétence en Chimie et en Matériaux
Des formations techniques sur-mesure : la plupart des formations proposées par de nombreux organismes de formations sont standards, non sur-mesure, et ne répondent pas à vos problématiques techniques
Des connaissances industrielles : FILAB réalise des formations à ses clients depuis plus de 10 ans, quel que soit le secteur industriel