Caractérisation de nanomatériaux par XPS en laboratoire

Votre besoin : caractériser des nanomatériaux par XPS en laboratoire.

Pourquoi caractériser des nanomatériaux par XPS ?

Tout d’abord, la technique de Spectroscopie de Photoélectrons X (XPS) a pour but déterminer la composition chimique élémentaire d’un matériau sur une profondeur de quelques nanomètres.

En effet, l’ XPS consiste à irradier par un faisceau de rayons X la surface d’un échantillon puis à étudier les photo-électrons générés par l’interaction entre le faisceau incident et le matériau. Il est alors possible de déterminer la composition chimique élémentaire de surface. Pour chaque élément détecté, son environnement chimique (nature des liaisons chimiques, identification des degrés d’oxydation, …) est également déterminé.

Ainsi, dans le cadre des nanomatériaux, leur caractérisation par XPS permet de déterminer de façon qualitative ou quantitative leur composition chimique ainsi que la nature de leur forme chimique. La détermination de ces propriétés est donc une étape clé dans les analyses réglementaire exigées par le règlement R-Nano ou encore le règlement REACH.

FILAB vous accompagne dans vos besoins de caractérisation de nanomatériaux par XPS

Au travers de nos trois niveaux de prestations : l’analyse, l’expertise et l’accompagnement R&D, FILAB accompagne les entreprises de tous secteurs dans la caractérisation de nanomatériaux par XPS. Pour cela, FILAB met à la disposition de ses clients le savoir-faire et l’expérience de son équipe, ainsi qu’un parc analytique de 2100m² équipé d’un matériel de pointe.

Les + FILAB

  • Une équipe hautement qualifiée

  • Une réactivité de réponse et de traitement des demandes

  • Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025

  • (Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)

  • Un parc analytique complet de 2100m²

  • Un accompagnement sur-mesure

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