Hochauflösendes REM-Analyselabor: REM-FEG
Als Industrieunternehmen möchten Sie eine hochauflösende REM-Analyse durchführen: REM-FEG
Was ist eine hochauflösende REM-Analyse – REM FEG?
Unter Nutzung des Prinzips der Elektron-Materie-Wechselwirkung ist die Rasterelektronenmikroskopie (REM oder SEM für Scanning Electron Microscopy) eine hochmoderne Charakterisierungstechnik, mit der hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe erzeugt werden können.
Die heute angebotene Alternative mit Feldemissionskanonen (FEG, englisch für Field Emission Gun) ermöglicht eine bessere Leistung, die für anspruchsvolle analytische Anwendungen und höchste Auflösung erforderlich ist.
Welche Vorteile bietet die hochauflösende REM-Technik – REM-FEG?
Die Beobachtung der Oberfläche von Proben bei niedriger Spannung mit einer FEG-Emissionsquelle verringert die Eindringtiefe des Elektronenstrahls und verbessert so die Auflösung.
Die Beobachtung feiner Oberflächenstrukturen bei sehr niedriger Spannung und sehr hoher Vergrößerung ermöglicht es den Anwendern daher, selbst kleinste Oberflächendetails sichtbar zu machen. Mit dieser Technik lassen sich somit Vergrößerungen in der Größenordnung von 1000000 erreichen.
Das Labor FILAB unterstützt Industrieunternehmen bei der hochauflösenden REM-Analyse (REM-FEG)
Unsere Leistungen für hochauflösende REM-Analysen: REM-FEG
Bruchflächenanalyse von Fraktografien: Bruchanalyse, Ermüdungsprüfung
Charakterisierung von Oberflächenbehandlungen : Dicke und Art des Schichtaufbaus
Oberflächenuntersuchung : Oxidation, Nitrierbehandlung, …
Einschlussdiagnostik: chemische Zusammensetzung
topografische Untersuchung : Rauheit, Verschleiß, Reibung, …
Unsere weiteren Leistungen
